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diffraction apparatusの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 304件
例文
To provide a method and an apparatus wherein a real-time measurement and a large-area measurement can be realized simultaneously by a simple constitution of an optical system when a sample is analyzed by using a diffraction grating-type surface plasmon resonance sensor chip.例文帳に追加
回折格子型の表面プラズモン共鳴センサチップを用いた試料の分析において、簡単な光学系の構成によりリアルタイム測定と大面積の同時測定とを同時に実現可能にする。 - 特許庁
To provide a method and apparatus which enable measuring of the adhesion of an alloy phase in a plated layer with a higher accuracy against any change in the distance between a diffraction position of X rays and a detection system as caused by the vibration of a steel plate.例文帳に追加
鋼板の振動によりＸ線の回折位置と検出系との距離が変動するような場合に、めっき層中の合金相の付着量を精度よく測定する測定装置および方法の提供。 - 特許庁
To provide an image display apparatus capable of preventing the occurrence of unnecessary diffraction order light (flare light) of a diffractive optical element due to incoincidence between a visual axis of an observer and an optical axis of an optical system.例文帳に追加
観察者の視軸と光学系の光軸との不一致による回折光学素子からの不要回折次数光（フレア光）の発生を低減する。 - 特許庁
The apparatus comprises means 13 to 17 which capture a diffraction image of a substrate comprising different shot areas, each having repetition patterns transferred thereto and a means 17 which calculates fluctuations in linewidth of the repetition patterns transferred to the different shot areas by comparing the brightness information of each part corresponding to each repetition pattern with respect to the different shot areas in the diffraction image.例文帳に追加
異なるショット領域のそれぞれに繰り返しパターンが転写されている基板の回折画像を取り込む手段１３〜１７と、回折画像の異なるショット領域について、それぞれの繰り返しパターンに対応する部分の輝度情報を比較することにより、異なるショット領域に転写された繰り返しパターンの線幅変動を算出する手段１７とを備える。 - 特許庁
例文
To provide a working apparatus, a working method and a diamond tool capable of forming a highly accurate working surface, by sharply working a diffraction groove corner part, while excellently keeping surface roughness of a zonal optical transfer surface, due to being suitable for working a metal mold for molding an optical element represented by, for example, a diffraction lens.例文帳に追加
例えば回折レンズに代表されるような光学素子の成形用金型の加工に好適であり、輪帯光学転写面の表面粗さを良好に保ちつつ回折溝コーナ部を鋭利に加工できることにより、高精度な加工面を形成できる加工装置、加工方法及びダイヤモンド工具を提供する。 - 特許庁
例文
The laser beam machining apparatus includes: a laser beam source 1 for emitting a laser beam LB; an optical element 3 that utilizes diffraction for diffracting the laser beam LB in a direction parallel to a planned cutting line SL; and a condensing lens 4 that condenses, inside a workpiece 10, the laser beam LB diffracted by the optical element 3 utilizing diffraction.例文帳に追加
レーザ光LBを出射するレーザ光源１と、レーザ光LBを割断予定ラインSLに平行な方向に回折させる回折を利用した光学素子３と、回折を利用した光学素子３で回折されたレーザ光LBを加工対象物１０の内部に集光する集光レンズ４と、を有することを特徴とするレーザ加工装置。 - 特許庁
This apparatus and method for adjusting and inspecting the optical pickup are constituted so as to analyze the transmitted light that is incident from the optical pickup via a diffraction grating 6, by arranging either a first plate 14 or a second plate 15 of different thicknesses arranged so as to contact a surface facing the objective lens 5 of the diffraction grating 6 at an optical path from the optical pickup.例文帳に追加
本発明に係る光ピックアップの調整検査装置及びその調整検査方法は、回折格子６の対物レンズ５に対向した面に接するよう配置された厚みの異なる第１のプレート１４と第２のプレート１５のいずれか一方を、光ピックアップからの光路に配置して、光ピックアップから回折格子６を介して入射した透過光を解析するよう構成されている。 - 特許庁
The measurement apparatus for measuring the optical characteristic of the optical system to be inspected includes a diffraction optical element having a plurality of control patterns which supplies the diffraction light of only the predetermined number of order on the pupil face of the optical system to be inspected, and a incidence means which allows the light to come into each of the plurality of control patterns at a different angle.例文帳に追加
被検光学系の光学特性を測定する測定装置であって、前記被検光学系の瞳面に所定の次数のみの回折光を供給する複数の抑制パターンを有する回折光学素子と、前記複数の抑制パターンの各々に異なる角度で光を入射させる入射手段とを有することを特徴とする測定装置を提供する。 - 特許庁
The substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a specular reflection image of light of a plurality of wavelengths irradiated on the inspection surface of a substrate under inspection, a second imaging means for capturing the diffraction image of light of a single wavelength applied on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flow of the inspection surface on the basis of the specular reflection image and the diffraction image.例文帳に追加
被検査基板の検査面に照射された複数波長の光の正反射画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記正反射画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁
例文
The external resonator type wavelength tunable laser apparatus 10 comprises a semiconductor laser medium 11, a diffraction optical element 13 for spatially dispersing the wavelengths of the light emitted from the semiconductor laser medium 11, and a wavelength selecting means having a reflecting surface 15a moved across the light subjected to the wavelength dispersion by the diffraction optical element 13 and selectively reflecting part of the light as return light by the reflecting surface 15a.例文帳に追加
外部共振器型の波長可変レーザ装置１０は、半導体レーザ媒質１１と、半導体レーザ媒質１１からの射出光を空間的に波長分散する回折光学素子１３と、回折光学素子１３により波長分散された光を横切るように移動する反射面１５ａを有し、反射面１５ａにより前記光の一部を戻り光として選択的に反射する波長選択手段とを備える。 - 特許庁
例文
Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image.例文帳に追加
また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a hologram apparatus in which diffraction efficiency can be made constant without changing the output of a laser light source itself and by which high-accuracy reconstructed data can be obtained, and to provide a hologram recording/reproducing method using the hologram apparatus.例文帳に追加
レーザ光源自体の出力を変化させなくても回折効率を一定にすることができ、高精度の再生データを得ることができるホログラム装置及び当該ホログラム装置を用いたホログラム記録再生方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an apparatus which can fully, promptly and precisely analyze using an inexpensive and simple structure by preventing diffraction rays, which become interfering rays, from being generated on the side of the X-ray source in an apparatus for X-ray fluorescence analysis analyzing samples having crystal structures.例文帳に追加
結晶構造を有する試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、妨害線となる回折線をＸ線源側で発生しないようにすることにより、十分迅速で正確な分析ができ、安価で簡単な構造の装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal device for suppressing incidence of light on a pixel transistor even when light passed through a gap area existing between adjoining light reflective pixel electrodes advances while being sent by diffraction and to provide an electronic apparatus including the liquid crystal device.例文帳に追加
隣り合う光反射性画素電極の間に介在する隙間領域を通過した光が回折により発散しながら進行しようとした場合でも、画素トランジスターへの光の入射を抑制することができる液晶装置、および当該液晶装置を備えた電子機器を提供すること。 - 特許庁
An external resonance type wavelength variable light source apparatus comprises a semiconductor laser 21 associated with an active layer 2 having a quantum well structure, and a diffraction grating 5 for diffracting the beam irradiated from the laser and feeding back the beam 3 having a selected wavelength to the laser.例文帳に追加
本発明は、量子井戸構造を有する活性層２が組込まれた半導体レーザ２１と、この半導体レーザから出射されるレーザ光を回折して選択された波長のレーザ光３を半導体レーザに帰還させる回折格子５とを備えた外部共振器型の波長可変光源装置に適用される。 - 特許庁
A photoreceptor containing the inorganic pigment and binder resin by a specified weight ratio and containing oxotitanium phthalocyanine showing the X-ray diffraction spectrum shown in Fig. 1 in the photosensitive layer is used for an electrophotographic apparatus which applies processes of reversal development.例文帳に追加
また無機顔料および結着樹脂を特定の重量比で含有し、感光層に図１のＸ線回折スペクトルを示すオキソチタニウムフタロシアニンなどを含有する感光体を、反転現像プロセスを適用する電子写真装置に使用する。 - 特許庁
An apparatus for manufacturing optical waveguide type diffraction grating element is equipped with the phase grating mask 210, a light source 310, and a mirror 320 and further equipped with a means for arranging and holding the phase grating mask 21 and an optical fiber 110 at specified positions respectively.例文帳に追加
光導波路型回折格子素子製造装置は、位相格子マスク２１０、光源３１０およびミラー３２０を備え、また、位相格子マスク２１０および光ファイバ１１０それぞれを所定の位置に配置して保持する手段をも備える。 - 特許庁
The optical pickup apparatus includes an optical surface provided with a diffraction ring band lens on the refractive surface of the objective lens 1 and offsets the effects of a diffractive surface and the effects of a refractive surface to three light sources 11, 12, 13 mutually different in wavelength to correct spherical aberrations.例文帳に追加
対物レンズ１の屈折面上に回折輪帯レンズを設けた光学面を含み、互いに異なる３つの波長の光源１１、１２、１３の各々に対して、回折面と屈折面との作用を相殺させて球面収差を補正する。 - 特許庁
To provide a distribution measurement apparatus which uses a laser diffraction/scattering method, and which can easily and correctly select a particle size distribution candidate by having means for narrowing the particle size distribution candidate in addition to means for performing quantitative evaluation in analyzing particle size distribution of a sample particle group.例文帳に追加
試料粒子群の粒度分布解析を行うにあたり、定量的な評価を行う手段に加えて粒度分布候補の絞り込みを行う手段を備えることにより、簡便に正しい粒度分布候補を選択することが可能なレーザ回折・散乱法を用いた粒度分布測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image display apparatus with an imaging device, capable of preventing the occurrence of a diffraction phenomenon in a light transmission part, inexpensively manufacturable, capable of collecting sufficient amount of light in the imaging device, and further capable of facilitating acquiring an image of a user facing an image display unit.例文帳に追加
光透過部において回折現象が生じることを抑制することができ、低コストで製造することができ、撮像装置に十分な光量の光を集光させることができ、しかも、画像表示部に正対する使用者の画像を容易に取得し得る撮像装置付き画像表示装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical recording and playback apparatus providing a high density optical recording system capable of performing high density recording, having high practical use and exceeding an optical diffraction limit and having consistency of recording functions of a playback only type, a write-once type and a rewritable type, to provide an optical recording medium and to provide an optical recording and playback method.例文帳に追加
高密度記録のできる実用性の高い光の回折限界を超えた高密度光記録方式を実現し、再生専用から、追記型、書き換え型までの記録機能に一貫性をもった光記録再生装置、光記録媒体、および光記録再生方法を提供する。 - 特許庁
To realize improvement in optical efficiency, ease of manufacture, and an improvement of the flexibility of a design in an optical pick-up apparatus, which includes a beam splitter for splitting light, and which obtains a required optical recording signal and a servo signal, by diffracting a split light with a diffraction grating.例文帳に追加
光分離を行なうビームスプリッタを有し、分離光を回折格子で回折させることで必要な光記録信号やサーボ信号を得る光ピックアップ装置において光効率向上、製造容易性、設計自由度の向上を実現する。 - 特許庁
To provide an imaging apparatus in which no light quantity detecting means and no special means, which is used to vary transmissivity of an optical system are required for an object to be photographed under any brightness, good image forming performance is obtained without being adversely affected by diffraction and cost, size and power consumption are reduced and it is contributed to resource economization.例文帳に追加
どのような明るさの被写体においても、光量検出手段や光学系の透過率を変更するための特殊な手段を要せず、回折の影響が無く良好な結像性能が得られ、且つ低コスト化、コンパクト化、省エネルギー化、省資源化に貢献し得る撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide a diffraction grating which is easily manufactured without reducing the size of the grating, to provide an optical scanner having such effects as a chromatic aberration correction and a temperature compensation even when a light source of a short wavelength of ≤500nm is used and to provide an image forming apparatus using the optical scanner.例文帳に追加
本発明の目的は、格子のサイズを小さくすることなく、製造が容易な回折格子を提供し、５００ｎｍ以下の短波長光源を使用した場合においても、色収差補正や温度補償などの効果を有する光走査装置及びそれを用いた画像形成装置の提供することにある。 - 特許庁
In an apparatus for manufacturing the diffraction grating, an ion source 4 of applying ion beams, a target material 2 irradiated with ions so as to be sputtered, and a substrate 1 on which atoms driven away from the target material 2 are deposited are installed, and a mask 3 is arranged between the target material 2 and the substrate 1.例文帳に追加
イオンビームを照射するイオン源４とイオンが照射されてスパッタリングされるターゲット材２とターゲット材２から叩き出された原子が堆積する基板１が設置され、ターゲット材２と基板１の間にはマスク３が配設されている。 - 特許庁
To reduce error detection which arises by diffraction of light or the like in an apparatus for coating with a process liquid including optical detection means for detecting a contaminant on a substrate or an abnormal condition that a part of the substrate is made in a state of a rise by the contaminant.例文帳に追加
基板上の異物もしくは基板の一部が異物により盛り上がり状態になされた異常状態を検出する光学的な検出手段を具備した処理液塗布装置において、光の回析等により生ずる誤検出を低減させる。 - 特許庁
To provide a method of correcting luminance for an image forming apparatus, with which the problem that a non-uniform image remains on a screen as a result of mutual interference of diffracted light emitted from adjacent diffraction grating-light modulation elements.例文帳に追加
隣接する回折格子−光変調素子から射出された回折光同士に干渉が存在する結果、スクリーン上の画像の不均一が残ってしまうといった問題を解決し得る画像形成装置における輝度補正方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical scanner which uses a power diffraction surface and reduces variation in beam spot diameter due to temperature variation and variation in beam spot diameter due to variation in oscillation wavelength caused by mode hopping to thereby perform an optical scan with a stable beam spot diameter, and an image forming apparatus.例文帳に追加
パワー回折面を用い、温度変動によるビームスポット径変動、モードホップによる発振波長の変化によるビームスポット径変動を低減し、安定したビームスポット径で光走査を行い得る光走査装置、画像形成装置を得る。 - 特許庁
This optical head apparatus is constituted so that temperature compensation is performed by forming the diffraction element at only the outer circumferential part of the objective lens, an optical disk for CD is used with smaller magnification than that the third order spherical aberration is made 0 and residual aberration is compensated by phase level difference.例文帳に追加
回折素子を対物レンズ外周部のみに形成することにより温度補償を行い、ＣＤ用光ディスクは３次球面収差を０にするよりも小さい倍率で使用し、残存収差を位相段差で補正するように構成する。 - 特許庁
To provide a lithographic apparatus in which a radiation beam which illuminates a patterning means polarizes to the substantially radial direction, and a diaphragm intercepts the diffraction polarized to the radial direction of patterned radiation.例文帳に追加
パターニング手段を照明する放射線ビームがほぼ半径方向に偏光し、ダイアフラムが、パターン形成された放射線の半径方向に偏光した回折部分を遮断するよう構築、配置構成されるリソグラフィ装置を提供する。 - 特許庁
An electrostatic latent image measurement apparatus comprises an electron gun 11, a light source 100, an acousto-optic deflection element 103, a polygon mirror 105, a second electron detector 24 and correction means which corrects the effect of changed drive frequency of the acousto-optic deflection element 103 on diffraction.例文帳に追加
電子銃１１と、光源１００と、音響光学偏向素子１０３と、ポリゴンミラー１０５と、２次電子検出器２４と、音響光学偏向素子１０３の駆動周波数の変化が回折に与える影響を補正する補正手段と、を備えた静電潜像計測装置。 - 特許庁
The optical pickup apparatus includes an optical surface having a ring-zonal diffraction lens provided on a refractive plane of the objective lens 1 and cancels action between a diffractive surface and the refractive plane to each of light sources 11, 12 and 13 having three wavelengths different from each other to correct spherical aberration.例文帳に追加
対物レンズ１の屈折面上に回折輪帯レンズを設けた光学面を含み、互いに異なる３つの波長の光源１１、１２、１３の各々に対して、回折面と屈折面との作用を相殺させて球面収差を補正する。 - 特許庁
To reduce the difference between a gain peak wavelength determined by a band gap of an active layer and an oscillation wavelength determined by an effective refractive index of the active layer and an interval between diffraction gratings, in a single longitudinal mode semiconductor laser device used as a light source for a wavelength division multiplex transmission apparatus, and hence improve oscillation efficiency.例文帳に追加
波長多重伝送装置の光源として用いる単一縦モード半導体レーザ素子において、活性層のバンドギャップによって決定する利得ピーク波長と、活性層の実効屈折率と回折格子の間隔によって決定する発振波長のずれを小さくし、発振効率を高くする。 - 特許庁
The optical pickup apparatus includes an optical surface obtained by forming a diffraction ring band lens on the refractive surface of the objective lens 1 and compensates a spherical aberration by offsetting the action of a diffractive surface and that of a refractive surface in each of light sources 11, 12, 13 having three respectively different wavelengths.例文帳に追加
対物レンズ１の屈折面上に回折輪帯レンズを設けた光学面を含み、互いに異なる３つの波長の光源１１、１２、１３の各々に対して、回折面と屈折面との作用を相殺させて球面収差を補正する。 - 特許庁
An X-ray imaging apparatus capturing a specimen comprises: a diffraction grating which shapes an interference pattern by diffracting an X-ray from an X-ray source; a masking grating which blocks a part of the X-ray shaping the interference pattern; and an X-ray detector which detects X-ray strength distribution from the masking grating.例文帳に追加
被検体を撮像するＸ線撮像装置は、Ｘ線源からのＸ線を回折することにより干渉パターンを形成する回折格子と、干渉パターンを形成するＸ線の一部を遮る遮蔽格子と、遮蔽格子からのＸ線の強度分布を検出するＸ線検出器を備える。 - 特許庁
To provide an optical pickup apparatus in which deterioration of amplitude of a tracking error signal by an objective lens shift is small for a plurality of kinds of optical disks of which the guide groove pitch is different, even when phase deviation given to respective regions of multi-division diffraction gratings is made small.例文帳に追加
多分割回折格子の各領域に与える位相ずれを小さくした場合でも、案内溝ピッチが異なる複数の種類の光ディスクに対して、対物レンズシフトに伴うトラッキング誤差信号の振幅劣化が小さい光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁
The optical pickup apparatus includes an optical surface provided with a diffraction ring band lens on the refractive surface of the objective lens 1 and offsets the effects of a diffractive surface and the effects of a refractive surface to three light sources 11, 12, 13, respectively, which are mutually different in wavelength, to correct spherical aberrations.例文帳に追加
対物レンズ１の屈折面上に回折輪帯レンズを設けた光学面を含み、互いに異なる３つの波長の光源１１、１２、１３の各々に対して、回折面と屈折面との作用を相殺させて球面収差を補正する。 - 特許庁
The vulcanized rubber composition comprises a rubber material as a base material and, incorporated as a filler therewith, a carbon fiber having a number-average grain size of at most 5 μm and a weight-average grain size of at most 20 μm in the size distribution as measured by a laser diffraction grain size distribution measuring apparatus.例文帳に追加
ゴム材料を基材とし、充填剤として、レーザー回析式粒度分布測定装置で測定したサイズ分布の、数平均が５μｍ以下、重量平均が２０μｍ以下である炭素繊維を含有する加硫ゴム組成物である。 - 特許庁
A spectroscopic apparatus 60 includes a diffraction grating for dispersing fluorescence from a specimen in one direction for each wavelength, a multi-channel PMT 66 having a plurality of cells 65 arranged along the dispersing direction of fluorescence dispersed by the diffraction grating, and light-shielding plates 68A and 68B for restricting the incident range of fluorescence incident onto the plurality of cells 65 by a restricting width variable within an amount of change smaller than the width of the cells 65.例文帳に追加
標本からの蛍光を一方向に波長ごとに分散させる回折格子と、回折格子により分散させられた蛍光の分散方向に沿って配列された複数のセル６５を有するマルチチャンネルＰＭＴ６６と、複数のセル６５に入射される蛍光の入射範囲をセル６５の幅より小さい変化量で可変の制限幅により制限する遮光板６８Ａ，６８Ｂとを備える分光装置６０を提供する。 - 特許庁
To solve the problem in conventional inspection apparatus and inspection method using a Fourier transform filter that a reflecting light from an edge of an irregular circuit pattern cannot be removed although the apparatus and method are effective to remove a diffraction light from a repeated pattern, and consequently sophisticated image processing such as processing the edge, distinguishing foreign matters from false failures in the vicinity of the edge, etc., is required.例文帳に追加
従来のフーリエ変換フィルタを用いた検査装置及び検査方法では、繰り返しパターンからの回折光の除去には有効であるが、不規則な回路パターンのエッジ部からの反射光は除去できず、エッジ部処理やエッジ部近傍における異物と疑似不良の識別等高度な画像処理が必要でありる。 - 特許庁
The present invention relates to the seamless belt for electrophotography which contains thermoplastic resin, a conducting agent, and laminar clay mineral and is characterized in that the inter-layer distance of the lamellar clay mineral found by X-ray diffraction is ≥1.5 nm, and the image forming apparatus using the seamless belt for electrophotography.例文帳に追加
本発明の課題は、熱可塑性樹脂、導電剤、層状粘土鉱物を含有し、且つＸ線回折により求めた層状粘土鉱物の層間距離が１．５ｎｍ以上であることを特徴とする電子写真用シームレスベルト及び電子写真用シームレスベルトを用いた画像形成装置により解決される。 - 特許庁
To provide constitution in which a main spot diameter is made small by a diffraction element for generating three beams and a tracking error signal can be obtained appropriately for any optical recording disks of which the track pitches are different, in an optical recording disk apparatus performing recording and/or reproducing of information for a plurality of kinds of optical recording disks of which the track pitches are different.例文帳に追加
トラックピッチが異なる複数種類の光記録ディスクに対する情報の記録および／または再生を行う光記録ディスク装置において、３ビーム生成用の回折素子によってメインスポット径を小さくし、かつ、トラックピッチが異なるいずれの光記録ディスクについてもトラッキングエラー信号を好適に得ることのできる構成を提供すること。 - 特許庁
To achieve a lens inspection apparatus capable of easily and intuitively grasping and instantly evaluating the image forming performance (the size of spread of a point image by aberration of a lens, building failure, and diffraction) of a lens to be inspected in a manufacturing field and a product development field, and quantitatively evaluating both of on-axial chromatic aberration and magnification chromatic aberration of the lens to be inspected.例文帳に追加
被検レンズの結像性能（レンズの収差、工作不良及び回折による点像の広がりの大きさ）を、製造現場や製品開発現場において、簡単に直感的に把握、瞬時に評価可能とするとともに、被検レンズの軸上色収差と倍率色収差の両方を定量的に評価可能とするレンズ検査装置を実現する。 - 特許庁
To provide a mask pattern imaging apparatus capable of continuously carrying out alignment between a substrate and a mask on a substrate plane and alignment of a mask mark and an image plane position on the basis of light diffraction by an alignment mark provided on the substrate and an alignment mark provided on the mask arranged to be separated from the substrate.例文帳に追加
基板上に設けたアライメントマークと上記基板から離間して配置したマスク上に設けたアライメントマークによる光回折に基き、基板平面における基板とマスク間の位置合わせと、上記マスクマークの像面位置合わせとを連続的に履行可能とする、マスクパターン画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
Further, the diffraction face of the diffractive lens 4 has power for correcting the shift of focus of the luminous flux focused on the surface of a photoreceptor drum 511 due to temperature variation, the power is set so that the residual shift of focusing corresponding to the sub-scanning direction may become larger than the shift of focusing corresponding to the main-scanning direction when a homogeneous temperature rise of the whole apparatus is assumed.例文帳に追加
また、回折レンズ４の回折面は、感光体ドラム５１１の表面に集光される光束の温度変化によるピントずれを補正するためのパワーを有し、該パワーは、装置全体が均一に温度上昇したと仮定したときに、残存する副走査対応方向のピントずれ量が、主走査対応方向のピントずれ量よりも大きくなるパワーに設定されている。 - 特許庁
A machining head 4 of the micromachining apparatus includes a diffraction grating type spatial light modulation device 41 having a plurality of movable ribbons 413a and fixed ribbons arranged alternately on a substrate 411, and a plurality of cutting blades 42 projecting from the plurality of movable ribbons 413a of the spatial light modulation device 41 toward a holding part 3.例文帳に追加
微細加工装置の加工ヘッド４は、基板４１１上に交互に配列された複数の可動リボン４１３ａおよび固定リボンを有する回折格子型の空間光変調デバイス４１、および、空間光変調デバイス４１の複数の可動リボン４１３ａから保持部３に向けて突出する複数の切削刃４２を備える。 - 特許庁
The optical wavelength multiplex signal monitoring apparatus with an array waveguide diffraction grating (AWG) includes, between the input waveguide of AWG and the slab waveguide of input side: an optical splitter; two arm waveguides; an optical mode synthesis coupler; a tapered waveguide; and a heater which adjusts the phase difference between two arm waveguides.例文帳に追加
本発明の一実施形態によれば、アレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）を備えた光波長多重信号監視装置は、ＡＷＧの入力導波路と入力側のスラブ導波路との間に、光スプリッタと、２つのアーム導波路と、光モード合成カプラと、テーパ導波路と、２つのアーム導波路間の位相差を調整可能としたヒータとを備える。 - 特許庁
To provide an optical structure in which an advanced optical function utilizing phenomena of refraction, scattering and diffraction of light at an interface with different refractive indexes can be given to a surface of an optical component using an organic high polymer and which is low in cost and is excellent in mass-productivity, and further to provide its manufacturing method and an optical apparatus equipped with the optical structure.例文帳に追加
有機高分子を用いた光学部品の表面に、屈折率の異なる界面にて光が屈折、散乱、回折する現象を利用した高度の光学的機能を付与することができ、しかも、安価で量産性に優れた光学構造体及びその製造方法並びにそれを備えた光学装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical recording material which maintains high recording sensitivity, a high dynamic range and high diffraction efficiency and can increase film thickness by controlling the lengths of side chain spacer groups; to provide an optical recording medium capable of large-volume recording by thickening a photosensitive layer without deteriorating recording properties; and to provide an optical recording and reproducing apparatus capable of recording and reproducing large-volume data.例文帳に追加
側鎖スペーサー基の長さの制御により、高い記録感度及びダイナミックレンジと高い回折効率とを維持し、かつ厚膜化を図ることができる光記録材料、記録特性を損なうことなく感光層を厚膜化することにより、大容量記録が可能な光記録媒体、及び大容量データの記録及び再生が可能な光記録再生装置を提供することである。 - 特許庁
例文
To obtain a scanning optical device in which a clear and bright image is obtained by preventing the deterioration of an image caused by the stray light of unwanted diffracted light beams by setting the image formation state of the stray light of the unwanted diffracted light beams caused by a diffraction surface an out-of- focus state on a surface to be scanned and an image forming apparatus using it.例文帳に追加
回折面によって生じる不要回折光の迷光の結像状態を被走査面上でピンぼけ状態にすることにより、該不要回折光の迷光により生じる画像の劣化を防止し、クリアで鮮明なる画像を得ることができる走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置を得ること。 - 特許庁