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overflow testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5件

例文

To enable a logic analyzer to precisely test the overflow state and the underflow state of a stack memory inside a device under test.例文帳に追加

ロジック・アナライザで、被試験装置内のスタック・メモリのオーバーフロー状態及びアンダーフロー状態を正確に試験する。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値（オール０）からオーバーフローまでの計量（桁上げ）試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

The internal signal observation device has a data capture part, a signal selecting means, a preset counter, a counter overflow terminal and an output terminal, and outputs a number of pieces of internal information from a limited number of test terminals by capturing data with a sampling clock and outputting internal signals on a time-division basis.例文帳に追加

データキャプチャ部と信号選択手段とプリセットカウンタとカウンタオーバフロー端子と出力端子を有し、複数の内部信号をサンプリングクロックでデータキャプチャ後、時分割出力することにより限られた本数のテスト端子から多数の内部情報を出力することを特徴とした内部信号観測装置。 - 特許庁

例文

A CCD image sensor comprises a valid pixel area wherein a signal charge is generated and accumulated, an optical black area formed adjacently to this valid pixel area and a longitudinal overflow drain capable of controlling the amount of leaked excess charges from the valid pixel area to the optical black (OB) area with a substrate voltage Vsub, and such a CCD image sensor is defined as a device under test (DUT).例文帳に追加

信号電荷を発生し蓄積する有効画素領域と、この有効画素領域に隣接して形成されたオプティカルブラック領域と、有効画素領域からオプティカルブラック（ＯＢ）領域への余剰電荷の漏れ量を基板電圧Ｖｓｕｂによって制御可能とする縦型オーバーフロードレインとを備えたＣＣＤイメージセンサを検査対象（ＤＵＴ）とする。 - 特許庁

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