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diagonal markの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 7件

例文

In the reticle, an L-shaped mark at the diagonal part of the shot region 9 is formed on a scribe line 14 as a cross type mark 16 in units of the diagonal part of the shot region 9.例文帳に追加

ショット領域９の対角部のＬ字型マークは、ショット領域９の対角部単位に十字型マーク１６となってスクライブライン１４上に形成される。 - 特許庁

The direction recognizing mark 20 extends along a length direction or a width direction through a cross point C5 of two diagonal lines of the square D.例文帳に追加

方向認識マーク２０は、正方形Ｄの２本の対角線の交点Ｃ５を通り、長さ方向または幅方向に沿って延びている。 - 特許庁

Both coaxial vertical illumination and diagonal illumination are used simultaneously, or, any one of them is used according to reflection characteristics of the board mark to illuminate the board mark, thus a small and efficient illuminating equipment is provided.例文帳に追加

基板マークの反射特性に応じて同軸落射照明と斜光照明の両照明方式を同時に用いて、あるいはいずれかの照明方式で基板マークを照明することができ、小型で効率的な照明装置が得られる。 - 特許庁

To make two alignment marks arranged at diagonal positions on a panel surface, illuminate only by providing two electrification terminals for mark illumination on one terminal part of a unidirectional terminal type liquid crystal display panel by using one electrification terminal for mark illumination for one alignment mark.例文帳に追加

１つのアライメントマークに対するマーク点灯用通電端子を１つとして、一方向端子型の液晶表示パネルにおいて、その１つの端子部に２つのマーク点灯用通電端子を設けるだけで、パネル面内の対角位置に配置されている２つのアライメントマークを点灯可能とする。 - 特許庁

例文

A marker 4 is printed as a continuous line mark covering a whole region of a label width and not breaking off and as an "×" mark crossing in a diagonal way lapping with a bar code while printing a marker 4 for invalidating a published label 3 on a merchandise information 1.例文帳に追加

発行したラベル３を無効にするための目印４を商品上の１の上に重ねて印字するとともに、目印４は、ラベル幅全域に亘る途切れない連続した線印としてかつバーコードに重ねて対角的に横断した「×」印として印字される - 特許庁

例文

In an array of the substrate suction grooves 8a, a bypass part 8c bypassing an outer side of a recognition mark 9b at a diagonal position is provided, and a range from the recognition mark 9b inside of the electronic component mount position 9a is excluded from the array range.例文帳に追加

基板吸着溝８ａの配列においては、対角位置にある認識マーク９ｂの外側を迂回した迂回部８ｃを設け、認識マーク９ｂから電子部品実装位置９ａの内側へ向かう方向の範囲を配列範囲から除く。 - 特許庁

例文

The length of the longer diagonal line (X-axis direction) of a mark image SM1 formed in the overlap of the transferred images TP1W and TP2W on the wafer is measured.例文帳に追加

そして、ウエハ上の転写像ＴＰ１Ｗと転写像ＴＰ２Ｗとの重なり部に形成されたマーク像ＳＭ１の長い方（Ｘ軸方向）の対角線の長さを計測する。 - 特許庁

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