Растровом — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «растровом»
Устройство для исследования влажных образцов в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 649062
Опубликовано: 25.02.1979
МПК: H01J 37/26
Метки: влажных, исследования, микроскопе, образцов, растровом, электронном
...иэ светопроводящего материала и имеющей отверстие 8 для прохождения электронного луча, закрытое защитной пленкой, Защитная пленка крепится эпокснлом в отверстии-окне 8 крышки мнкрока649062 меры 7. Диаметр отверстия1 мм. Крышка 7 микрокамеры б выполнена иэ светящегося при электронной бомбардировке пластикового материала антрацена.Устройство действует следующим образом.Сканируемый электронный зонд 1 микроскопа (первичный сфокусированный пучок электронов) свободно пронизывает защитную пленку, например, из формвара толщиной д 1000 Ъ. При 10 сканировании зонда по поверхности влажного объекта 5 образуются как вторичные, так и отраженные электроны. Промодулированные рельефом поверхности объекта,они обладают энергией, достаточной для...
Способ формирования изображения объекта в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 661648
Опубликовано: 05.05.1979
МПК: H01J 37/28
Метки: изображения, микроскопе, объекта, растровом, формирования, электронном
...после Фильтрации; е в . эпюра сигнала, полученного при суммировании сигнала, представленного наэпюре в с сигналом, представленным на эпюре д штрих-пунктирной линией.На фиг,З показан фронт импульсного сигнала ат какого-либо элемента поверхности объекта при сканировании его периодически расфокусируемым электронным зондом, где: Б - результирующий сигнал с объекта при воздействии,на него периодически расфокусируемым электронным зондом; Р сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированным зондом; Ч сигнал с объекта при воздействии на него расфокусированного зонДа,Электронная пушка 1 имитирует пучок электронов, который формируется системой 2 в электронный зонд малого диаметра и фокусируется на поверхность объекта 3. Сканирование зонда...
Способ измерения диаметра электронного зонда в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 884005
Опубликовано: 23.11.1981
Авторы: Голубев, Силаев, Степанов
МПК: H01J 37/28
Метки: диаметра, зонда, микроскопе, растровом, электронного, электронном
...4, камера 5 объектов, стол б объектов, кристалли детектор 8 вторичных электронов. В систему обработки информации входят ВКУ 9, измерительное устройство 10, и вычислительный блок 1. На фиг. 2 показано взаимное расположение граней кристалла 7 относительно электронного зонда 2 и направления выхода вторичных электронов 13. Кривые сигналов 14 - 1 б соответствуют различным диаметрам зонда, наименьшему из которых соответствует кривая 4.Устройство работает следующим образом.Электронный пучок, создаваемый электронной пушкой 2, формируется с помощью линзы 3 в электронный зонд малого диаметра на поверхности размещенного на столе объектов б объекта 7. Сканирование электронным зондом поверхности объекта осуществляется с помощью отклоняющей системы...
Способ получения изображений в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 911651
Опубликовано: 07.03.1982
МПК: H01J 37/28
Метки: изображений, микроскопе, растровом, электронном
...расфокусировкой электронного зойда путем наложения на ток фокусирующей системыдополнительного тока гармонической )5формы.Сущность способа заключается втом, что коррекция контрастно-частотной характеристики осуществляется во всех направлениях. Это дости" 20гается путей введения в сигнал прОизводных по полярной координате готображаемой, точки.Периодическая расфокусировка электрон;:ого зонда по гармоническому закону.оэначает, что площадь облучае-мого пятна на образце 7 ьгизменяется также по гармоническому закону счастотой Ш. Видеосигнал 1(г ) вслучае ь.злой модуляции можно разло"жить в ряд около среднего значенияразмера зонда110)=%Иго,1)1 р ДЯВИ, (4 - ЯВЙ 94а.1, атт.епри синхронном детектированиина частоте Ю будет вцделяться...
Способ формирования изображения поля объекта и его фрагмента в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 918995
Опубликовано: 07.04.1982
Автор: Бочаров
МПК: H01J 37/28
Метки: изображения, микроскопе, объекта, поля, растровом, формирования, фрагмента, электронном
...18 на выходе блока 10 управ-ф ления, сигнал 19 на выходе блока. 8 формирования амплитуды кадровой развертки, сигнал 20 на выходе блока 9 формирования амплитуды строчной развертки, видеосигнал 21 на выходе детектора 5 ЗО излучений, видеосигнал 22 на входе ЭЛТ 14, формирующий иэображение поля объекта, видеосигнал 23 на входе ЭЛТ 15. формирующий изображение фрагмента поля обмкта. 3Электронный зонд 2 с помощью отклоняющей системы 3 сканирует исследуемый объект 4.Сканирующие сигналы, подаваемые на,40 отклоняющую системы микроскопа и ЭЛТ, вырабатываются следующим образом.Пилообразный сигнал с генератора 6 , кадровой развертки (фиг. 2, эпюра 16) поступает на отклоняющую систему ЭЛТ 15, формирующей изображение фрагмента, на вход блока 10...
Устройство для обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 940261
Опубликовано: 30.06.1982
Авторы: Давиденко, Кисель, Остапов, Павленко
МПК: H01J 37/26
Метки: видеосигнала, микроскопе, растровом, электронном
...схем расположена в области низких частот. формула изобретения Устройство для обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе, содепкащее последовательн о соединенные детектор, усилитель постоянного тока, блок преобразования видеосигнала и блоки отобрвкения информации медлэнной и быстрой разверток, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности обработки за счет увеличения атношения сигнал/помеха и повьгшения.стабильности яркости изображения при совмещении разверток, оно снабжено блоком сложения и блоком фиксации уровня видеосигнала, при этом блок сложения включен между детектором и усилителем ностоянного тока, а блок фиксации уровня видеосигнала включен между блоком преобразования и блоком отобрвкения...
Устройство автоматической фокусировки изображения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 942189
Опубликовано: 07.07.1982
Авторы: Веприк, Давиденко, Капличный, Кисель, Остапов, Павленко
МПК: H01J 37/21
Метки: автоматической, изображения, микроскопе, растровом, фокусировки, электронном
...работуус тройс тва автоматической фокусировкиво всем диапазоне развертки растровогоизображения, получаемого в РЭМ,Использование предлагаемого устройства позволяет расширить ассортиментисследуемых объектов с более развитыми сложным рельефом, что обеспечиваетполучение информации, наиболее близкойк реальной,формула изобре тенияУстройство автоматической фокусировки изображения в растровом электроныом микроскопе, содержащее систему 3 94нить трудно, поэтому ограничиваются узким диапазоном работы развертки, длякоторого настроен усилитель.Бель изобретения - расширение диапазона рабочих режимов по длительнос- .ти развертки при исследовании объектовсо значительным изменением рельефа поверхности,Указанная цель достигается тем, чтов устройстве...
Устройство отсчета и регулировки увеличения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1042108
Опубликовано: 15.09.1983
Авторы: Бульба, Веприк, Давиденко, Остапов, Павленко, Удальцов
МПК: H01J 37/28
Метки: микроскопе, отсчета, растровом, регулировки, увеличения, электронном
...тока разверток, регулятор числа витков включен между Формирующей линзой и стабилизатором тока, а выход регулятора ускоряющего. напряжения соединен с дополнительными входами регулятора числа витков .и усилителя-компенсатора.На чертеже предетавлена схема устройства.В состав РЭМ входят отклоняющая система 1, формирующая линза 2 и исследуемый объект 3. С формирующей линзой соединен регулятор 4 числа витков и стабилизатор 5 тока, образующие канал фокусировки электронного зонда. Канал формирования разверток содержит последовательно включенные задающий генератор б, регулятор 7.увеличения, усилителькомпенсатор 8 и усилитель 9 тока разверток.Схема 10 умножения, аналого-цифровой преобразователь 11, счетчик 12 импульсов и,цифровой индикатор...
Устройство для измерения потенциала поверхности в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1058006
Опубликовано: 30.11.1983
Авторы: Ракитин, Трубин, Циунелис
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскопе, поверхности, потенциала, растровом, электронном
...тем,что устройство для измерения потенциала поверхности в РЭМ, содержащееэнергоанализатор,включающий вытяги-вающий и анализирующий электроды, исцинтилляционный преобразовательс фотоэлектронным умножителем, соединенным с одним из входов схемысравнения, выход которой соединенс входом задающего генератора, аляющая.с ФЗУ с определенным коэффициентом, определяемым делителем 13. Принеравенстве сигнала с выпрямителя 10и опорногЬ выходного сигнала схемасравнения регулирует уровень постоян 5 ной составляющей потенциала задержки .на электрод 5 таким образом, чтобывосстановилось равенство сравниваемыхсигналов,Перед началом работы устройство10 измерения настраивается следующимобразом. При разорванной обратнойсвязи и потенциале образца 3 и...
Способ формирования изображения микроструктуры металл диэлектрика в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1200176
Опубликовано: 23.12.1985
Автор: Олейников
МПК: G01N 23/225
Метки: диэлектрика, изображения, металл, микроскопе, микроструктуры, растровом, формирования, электронном
...потока 2 установлен детектор 3 отраженных электронов. Образец имеет 25 металлическое покрытие 4, нанесенное на диэлектрике 5. Между диэлектриком и покрытием имеется переходный слой 6. С покрытия снимается сигнал, регистрируемый измерительным устрой- ЗО ством 7.На фиг,2 показаны эпюра 8 сигнала отражейных электронов, эпюра 9 поглощенных электронов, эпюра 10азности между этими сигналами и 35 эпюра 11 проинтегрированного разностного сигнала.Способ осуществляют следующим образом.Импульсное облучение образца мо О жет осуществляться как с помощью специальных схем, так и электромеханическим путем, например, с помощью диска с отверстиями, приводимого во вращение электродвигателем, При этом 45 часть электронов отражается, образуя поток...
Способ формирования кадрового ступенчато-пилообразного напряжения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1224853
Опубликовано: 15.04.1986
МПК: H01J 37/28
Метки: кадрового, микроскопе, растровом, ступенчато-пилообразного, формирования, электронном
...стандартов разложения при повышении надежности за счет исключения системы коммутации и упрощения настройки.На фиг, 1 показана функциональная схема устройства для реализации способа; на фиг, 2 - эпюры напряжений в различных точках схемы. Схема содержит ждущий мультивибратор 1 (фиг. 1), логический блок 2 типа 2-2 И-ИЛИ-НЕ, двенадцатираэрядный счетчик 3 и цифроаналоговый преобразователь,(ЦАП) 4. Эпюры напряжений (фиг. 2) отражают импульсы 5 строчной частоты, импульсы 6 тактовой частоты, импульсы 7 на выходе счетчика при максимальном числе строк в кадре (п=О) и соответствующую ему форму выходного напряжения 8 ЦАП, импульсы 9 на входе счетчика при уменьшении числа строк в кадре в два раза (и 1) и соответствующую форму выходного напряжения...
Способ получения изображения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1224854
Опубликовано: 15.04.1986
МПК: H01J 37/28
Метки: изображения, микроскопе, растровом, электронном
...ВЭ 1-ВЭ 4 соответственно.10 Количество НОЭ, попадающих на детектор, весьма незначительно (менее1 Е) и в дальнейшем может не учиты- .ваться.Сигнал вторичной эмиссии можнозаписать в видеБар =к т(1+ Вг)(2)Этот сигнал будет на выходе детектора в том случае, если задержать третичные и фоновые электроны, подавая 20 на пластину 5 (фиг. 1) положительныйпотенциал порядка 5 ОВ,Количество образуемых в РЭМ вторичных, третичных и фоновых электронов связано между собой соотношением 25Вг =о(Я;+8,), (3)где М - коэффициент пропорциональности,Вычитая из суммарного электричесЗ 0,кого сигнала сигнал вторичной эмиссии, имеемБ -Б=кцт (8,+В)(4)Усиливая разность (Я - Б ) в 2 раза и вычитая ее из сйгнала вторичной 35.эмиссии, получим 8=К Т , (5)Таким образом,...
Устройство для регистрации неупругоотраженных электронов в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1265887
Опубликовано: 23.10.1986
МПК: H01J 37/28
Метки: микроскопе, неупругоотраженных, растровом, регистрации, электронном, электронов
...относительно задерживающей сетки 7, поэтому любой его участок можно подвести в область сканирования электронного пучка. Поэтому неосвещенные пучком участки на образце отсутствуют.П р и м е р. Секционированная пре. образовательная пластина состоит из трех концентрических колец с внешним диаметром 40, 65 и 90 мм, выполненных подобно токоведущим дорожкам печатной платы из фольгированного стек" лотекстолитаКольца покрыты окисью магния для увеличения коэффициента вторичной эмиссии.Задерживающая и вытягивающая сетки изготовлены из стандартной стальной сетки с площадью ячейки 1 мм и Фпрозрачностью около 603, Задерживающая сетка в виде полусферы радиусом 12 мм закреплена посредством пайки на экране в виде трубки с внутренним...
Устройство для измерения потенциала поверхности в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1274028
Опубликовано: 30.11.1986
Авторы: Денисюк, Добролеж, Клименко, Мен
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскопе, поверхности, потенциала, растровом, электронном
...устройство работает врефлекторном режиме, т,е. с замкнутой цепью обратной связи. 25При изменении потенциала образца,например, в сторону отрицательныхзначений энергетический спектр вторичных электронов смещается в область более высоких энергий. При этом 30уменьшается глубина высокочастотноймодуляции потока электронов и, соответственно, уровень переменной составляющей сигнала на выходе энергоанализатора. Связанное с этим умень- З 5шение числового значения кода АЦП 11по сравнению с опорным ведет в результате работы цифрового процессора1.: к появлению на выходе ЦАП 13 управляющего сигнала обратной связи, 40который с помощью схемы 14 сравненияизменяет величину постоянной состав-ляющей напряжения задержки на анализирующем электроде 5, смещая...
Способ обработки видеосигнала в растровом электронном микроскопе и устройство для его осуществления
Номер патента: 1285544
Опубликовано: 23.01.1987
Автор: Камалягин
МПК: H01J 37/28
Метки: видеосигнала, микроскопе, растровом, электронном
...на вход блокиронки анализа второго блока 10 автоматической нормализации экстремумон, который выделяет локальные экстремумы видеосигнала, соответствующие малоконтрастному фрагменту, и поним регулирует уровень черного и размах видеосигнала. Видеосигнал 19(фиг. 2) с выхода второго блока 10ан гоматической нормализации экстремумов позволяет сформировать изображение с высоким контрастом н пределах выбранного оператором фрагмента,за пределами которого часть информации, оказавшаяся ниже уровня 22 черного и выше .уровня 21 белого, теряется.Обработанный видеосигнал 20 (фиг.2),используемый для воспроизведенияизображения микрообъекта на экранеЭЛТ нидеоконтрольного блока 12, снимается с выхода коммутатора 13,управляемого сигналом 16...
Способ сканирования спектра в растровом спектрометре
Номер патента: 1368662
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Афанасьев, Шлишевский
МПК: G01J 3/433
Метки: растровом, сканирования, спектра, спектрометре
...К в пределах от 1,05 до1,45 или от 2,5 до 20,0 масштаб иэображения сохраняется практически постоянным по всему полю выходного растра; что позволяет расширить спектральный диапазон измерений.Если у - координата произвольнойточки входного растра, то для коорди/наты у ее монохроматического изображения на выходном растре при двухкратной дифракции пучка на решеткевыполняется соотношениеУ = у -Ьу/Е, (1) 2Ь = сопзг (3)В широких пределах изменения длинволн зависимость М(у) может быть свысокой точностью аппроксимированапрямолинейной зависимостьюч= (Р.-р) еаб (4)где угол падениясоответствует углу дифракции Ч =О, а Тр=Л /й 9 =сопзй.Если сканирование спектра производится в соответствии с условием(1+УФ)о = К. (5)На фиг.З даны графические...
Устройство для формирования тестового изображения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1527548
Опубликовано: 07.12.1989
МПК: G01N 23/225, H01J 37/00
Метки: изображения, микроскопе, растровом, тестового, формирования, электронном
...соответстнуетвпадинам устройства, На Фиг, 3 в увеличенном виде показана одна из впадинс силовыми линияьо 3 электрического поля, траекторией 4 первичного зонда итраекторияье 5 вторичных электронов.Кривые 6, 7, 8 и 9 на фиг, 4 полученыэкспериментально для различных соотношений соответственно Ь =0,5; 1,О; 1,5;3,0,Устройство работает следующим образом,При сканировании зубчатой структуры поверхности устройства вторичноэмиссионный сигнал не изменяется, пока зонд облучает хорошо отражающийматериал ныступа и пока расстояниеот точки облучения до границы выступа не станет меньше радиуса областивыхода регистрируемых электронов,Далее, поскольку с боковой поверхности выступа также начинают выходитьэлектроны, то амплитуда видеосигналаначинает...
Способ измерения диаметра электронного зонда в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1569912
Опубликовано: 07.06.1990
Авторы: Немцев, Немцева, Симонов
МПК: H01J 37/28
Метки: диаметра, зонда, микроскопе, растровом, электронного, электронном
...переходной области на этихуровнях. Поэтому измеряют протяженность участка нарастания сигнала отуровня Я, + 0,3(Б - Б) до уровня1 Б + 0,69(Я - Я) на резком участке переходной области (т.е. времяпрохождения зондом расстояния, равно 55го параметру 6 в распределенииГаусса),При этом с увеличением энергииэлектронов зонда РЭМ не сказывается расширение области взаимодействияпервичных электронов с краями вольФрамовой пленки, и точность определениядиаметра зонда не изменяется,П р и м е р. Для измерения диаметра электронного зонда изготавливаютспециальный объект, представляющийсобой набор участков вольФрамовойпленки на кремниевой подложке,Изготовление объекта осуществляют методом ФотолитограФии.Приготовленный объект устанавливают в камеру РЭМ и...
Способ фиксирования образцов при исследованиях в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1608531
Опубликовано: 23.11.1990
Автор: Филиппов
МПК: G01N 1/36, G01N 23/225
Метки: исследованиях, микроскопе, образцов, растровом, фиксирования, электронном
...в процессе поующие операций. На подготовленный м образом держатель образцов, наблюв оптический микроскоп. размещают кты исследования. Затемдержательобов с установленными объектами поме(55 0 01 К 23/225,1/28(54) СПОСОБ ФИКСИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ПРИ ИССЛЕДОВАНИЯХ В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ (57) Изобретение позволяет снизить вероятность загрязнения исследуемой поверхности образца. Для этого слой клеевого состава высушивают после нанесения его на обьектодержатель. Затем на высушенную поверхность устанавливают образец и парами растворителя размягчают клеевой состав. щают в сосуд, на дно которого наливают необходимое количество растворителя, например ацетон, для клея "Суперцемент", и накрывают стеклом. При этом пары растворителя...
Устройство для зондирования микросхем в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1615822
Опубликовано: 23.12.1990
Авторы: Веприк, Никифоров, Феклистов, Шестаков
МПК: H01J 37/26
Метки: зондирования, микроскопе, микросхем, растровом, электронном
...карта 3 с пьезоподъемником 4, выполненным в виде кольцевого элемента с иглами 5, крепящимися к его внутренней поверхности с помощью эпоксида 6. Два пьеэокерамических кольца 7 соединены через металлическую шайбу 8 и образуют биморфное кольцо пьезоподъемника 4, На контактирующих поверхностях колец 7 и металлической шайбы 8 выполнена насечка. Кольца 7 и шайба 8 снабжены электроподводами 9. Шайба 8 улучшает механические характеристики кольца при изгибе, а насечка предотвращает сдвиг элементов кольца друг относительно друга.Устройство работает следующим образом,На предметный столик 1 помещают. исследуемую интегральную микросхему (не показана) и объем вокруг столика вакуумируется. Затем на биморфное кольцо пьезоподъемника 4 подают...
Устройство для контактирования интегральных схем в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1626467
Опубликовано: 07.02.1991
Авторы: Баскенов, Никифоров, Пухкало, Феклистов, Шестаков
МПК: H05K 1/11
Метки: интегральных, контактирования, микроскопе, растровом, схем, электронном
...и блоком зондов.Устройство для контактирования интегральных схем содержит столик 1 и зондодержатель 2 с иглами 3, Зондодержатель 2 связан с электромагнитом 4 посредством толкателя 5 и имеет центральное подвижное кольцо 6, Между зондодержателем 2 и блоком зондов 6 установлено биморфное пьезокерамическое кольцо 7, являющееся составной частью поджимающего узла 8, В состав узла 8 входит также болт 9 и пружина 10,Устройство работает следующим образом,Исследуемая интегральная схема помещается на столик 1, размещенный в вакуумном объеме, Включается электронный луч, и с помощью электромагнита 4 опускается эондодержатель 2 до максимального сближения (но не контакта) игл с интегральной схемой. На пьезокерамические биморфные кольца 7 подаются...
Способ подготовки образцов высокопористых материалов на основе кварцевого волокна для проведения количественных исследований в оптическом иили растровом электронном микроскопах
Номер патента: 1635228
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Голубев, Карлова, Локшин, Миклин, Шул
МПК: G01N 1/28, H01J 37/28
Метки: «и—или», волокна, высокопористых, исследований, кварцевого, количественных, микроскопах, образцов, оптическом, основе, подготовки, проведения, растровом, электронном
...материала на основе супертонкого кварцевого волокна, пропитанного тем же связующим Роливсан МВи протравленного в плавиковой кислоте в течение 5 мин (Ь/б 10),Вытравливание кварцевых волокон на поверхности шлифа увеличивает контраст получаемых изображений по меньшей мере вдвое за счет искусственного создания контраста по микрогеометрии, причем все структурные характеристики образца сохраняются неизменными (фиг, 1).Напыление тонкого слоя металла на поверхность шлифа не только предотвращает зарядку диэлектрического образца зондом РЭМ, но в случае напыления тяжелых металлов (Ац или Аи) способствует дальнейшему увеличению контраста.Высокое качество получаемых таким образом изображений поверхности позволяет применять такой,...
Способ фоторегистрации видеосигнала в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1677733
Опубликовано: 15.09.1991
Автор: Кипнис
МПК: H01J 37/28
Метки: видеосигнала, микроскопе, растровом, фоторегистрации, электронном
...Составитель В, ГаврюшинРедактор С. Лисина Техред М,Моргентал Корректор М. Максимишинец Заказ 3116 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, ужгород, ул.Гагарина, 101 Сочетание изменения полярности иуменьшения амплитуды видеосигнала приводит к улучшению воспроизведения деталей изображения в светах и тенях привыравнивании контраста в средних тонах, 5Изменение амплитуды видеосигнала на величину менее 5 оне приводит к заметномуизменению яркости деталей изображения,так как граничная чувствительность восприятия глаза лежит в интервалах 3 - 5% контраста по яркости,Средний уровень яркости...
Способ регистрации спектрального сигнала в растровом спектрометре
Номер патента: 1684604
Опубликовано: 15.10.1991
Автор: Шлишевский
МПК: G01J 3/12
Метки: растровом, регистрации, сигнала, спектрального, спектрометре
...поворотом решетки 3, Для выделения спектрального интервала объектив 2 совершает колебательное движение относительно горизонтальной оси, осуществляя селективную модуляцию светового потока на выходном растре. В один полупериод модуляции через выходной растр проходит световой поток Рп от исследуемого источникаЗаказ 3499 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина. 101 вместе с фоновым излучением Еф прибора,а в другой полупериод - поток Е, обусловленный собственным излучением непроэрачн ых элементов входного растра,находящегося в световом пучке, вместе с 5тем же фоновым излучением...
Устройство для обработки сигналов изображения в растровом электронном микроскопе
Номер патента: 1742897
Опубликовано: 23.06.1992
Авторы: Камалягин, Куляс, Плешивцев
МПК: H01J 37/28
Метки: изображения, микроскопе, растровом, сигналов, электронном
...производится ручная или автоматическая подстройка яркости и контраста в ВКБ 12.Первый и второй детекторы 5 и 6 экстремумов измеряют и преобразуют в цифровой код максимальное и минимальное значения 14 и 15 сигнала 16, Измерение осуществляется на интервале времени прямого хода по кадру. Сброс результатов измерения (подготовка детекторов к следующему измерению) осуществляется кадровым синхроимпульсом, поступающим с второго выхода синхрогенератора 1. Синхронизация аналого-цифрового преобразователя осуществляется тактовыми импульсами, поступающими на детекторы 5 и 6 с третьего выхода синхрогенератора 1,Цифровые коды экстремумов с выходов детекторов 5 и 6 поступают на входы второго блока 9 суммирования, на выходе которого к концу...