Аполицкий — Автор (original) (raw)
Аполицкий
Способ фазового минералогического анализа минерального сырья
Номер патента: 2003078
Опубликовано: 15.11.1993
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, минералогического, минерального, сырья, фазового
...охлаждают до комнатной температуры и с помощью микроскопа визуально по внешнему виду ведут.диа 4 ностику минералов. В данном примере среди 448 скольких тысяч закреп.30 с 5 ленных зерен было диагносцировано: кассит 8 рита"81 зерно, варламовитя - Оонаружены зерна похожие на варламовит, станниназерен, Оставшиеся недиагностированные зерна минералов отмечаот цифрами, Поверхность вокру зерна очищаОт От других минералов на расстоянии 0,03- 0,05 мм. Под одним и тем же номером отмечают не менее двух зерен одного типа минералов, Облучают зерно недля. Ностированного минерала лазером, в качестве источника возбуждения используют трехэлектродный высоковольтныЙ разряд, Ьспо/1 ьзование этоГО разряда дяе возмож- НОСТЬ ПОЛУЧИТЬ СП 8 КТР С 38 Р 8 Н,...
Устройство для смешивания материалов
Номер патента: 1724348
Опубликовано: 07.04.1992
Автор: Аполицкий
МПК: B01F 13/08
Метки: смешивания
...например 1,4 диаметра основания камеры, стержни отбрасываются от центра камеры, что ухудшает процесс измельчения и перемешивания, В случае длины стержней более 2/3 диаметра основания камеры они начинают заклиниваться, не плотно прилегают по всей длине к основанию камеры или сильно притягиваются в ее центральной части к обоим магнитам. Центробежные силы в этом случае не могут их раздвинуть, разместить по всему диаметру основания камеры.Для интенсивного измельчения и перемешивания необходимо, чтобы ширина и длина магнитов была не менее 1/2 диаметра основания камеры. В этом случае центр магнитов будет находиться под основанием камеры. Например, если ширина магнитов составляет 1/4 диаметра основания камеры, то их края будут...
Способ спектрального анализа
Номер патента: 1599724
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...- прпкатодное усилениеспектральных линий.Устройство работает следующим образом.Предв ят в движеникалибр,)т струей газа, например воздуха, ис) следуемый материал 16, например геологическую порошковую пробу крупностью менее 20 мкм, сверху между рабочими концами электродов 4 и 5, расстояние между которыми больше диаметра струи подаваемого газа. Через боковые отверстия в трубе 2 производятотсос газа из корпуса 1 камеры сгораНия. Далее подают напряжение на трансФорматоры 7=8 и генераторы 13 и 14высокочастотных импульсов. В межэлектродных промежутках 3,5 и 4,6 возниКают высокочастотные разряды, ионизирующие межэлектродное пространство,что приводит к возникновению дуговыхразрядов между электродами 3,5 и4,6,Плазмы этих разрядов пространстЬенно...
Устройство для локального лазерного спектрального анализа
Номер патента: 1562798
Опубликовано: 07.05.1990
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, лазерного, локального, спектрального
...возрастает в 3-5 раз при испарении одного и того же количества исследуемого вещества по срав-нению с известным способом (прототип) возЬуждения спектра при локально-ла" зерном спектральном анализе. Устройство позволяет осуществить загорание двух высоковольтных разрядов в момент поступления исследуемого, вещества в их межэлектродные промежутки, повысить коэффициент использования исследуемого вещества, увеличить время пребывания атомов определяемых элементов в зоне возбуждения, т.е, повысить чувствительность локаль. но-лазерного анализа.Увеличение размеров высокотемпературной зоны способствует не только повышению чувствительности анализа, но и повышает точность анализа, как за счет снижения нижней границы определяемых содержаний, так и за...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 1346952
Опубликовано: 23.10.1987
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: G01J 3/10, G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...не менее чем тремя верхними 1 - 3 и тремя нижннии 4 - б электродами, концы которых расположены в двух параллельных горизонтальных плоскостях, и приспособление 7 для подачи порошкового материала 8 в межэлектродный промежуток. Напряжение к парам электродов 1 и 5, 2 и 6, 3 и 4 подведено от одной фазы через разделительные трансформаторы 9 - 11, в цепи вторичной обмотки которых последовательно с межэлектродными промежутками подключены катушки индуктивности связанные индуктнвно с генера торами 12 - 14 высоковольтных импульсов, которые обычно используются для поджига дуги в спектральном анализе (типа генератора Свитницкого) . Кон 2 б денсаторы С, С , С предохраняютразделительные трансформаторы 9,10, 11 от прохождения через них высоковольтных...
Устройство для подачи порошковых проб в спектральном анализе
Номер патента: 1318864
Опубликовано: 23.06.1987
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: G01N 21/67
Метки: анализе, подачи, порошковых, проб, спектральном
...срезающего ножа 4. 64 2Устройство работает следующим об-разом.Шток 14 через поршень 13 равномерно подает пробу 12 в рабочую камеру 3 к срезающему ножу 4. От источника избыточного давления (0,10,5 атм) в рабочую камеру 3 черезотверстие 10 и многозаходную винтовую канавку 9 равномерно подают распыляющий газ (воздух, аргон и,т.п.),выход которого осуществляется черезтранспортную трубку 6. Затем включают электродвигатель 2, приводящийпо вращение срезающий нож 4. В результате вращения срезающего ножа 4происходит срезание, дробление, истирание, перемешивание распыляемогопорошка, отбрасывание его к стенкамрабочей камеры и переведение порош-.ка во взвешенное состояние, При этомлишь ничтожная часть мелкодисперсного порошка увлекается газовым...
Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра
Номер патента: 1318801
Опубликовано: 23.06.1987
Авторы: Аполицкий, Слесарев
Метки: выведения, линий, микрофотометра, спектральных, щель
...отсчете репер 2ные линии шаблона не совмещаются со спектральными линиями спектра исследуемой пробы, то на щель микрофотомет. ра выведена не спектральная линия определяемого элемента.На фиг. 1 схематично показано положение шаблона относительно щели микрофотометра, на фиг, 2 - спектр рабочего стандартного образца с выведенной на щель микрофотометра аналитической линией; на фиг. 3 - реперные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями рабочего стандартного образца (аналитическая линия расположена напротив щели (как ее продолжение); на фиг, 4 - реперные лийии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями спектра проб.П р и м е р . Для эмиссионного спектрального определения лантана (Ьа) обычно используется аналитическая...
Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе
Номер патента: 1317289
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Аполицкий, Слесарев
Метки: анализе, визуальном, расшифровки, спектральном, спектров, эмиссионном
...16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17, Между реб - ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.Устройство работает следующимобразом, 5 фотопластинки 6. При этом спектры 50 55 5 10 15 20 25 30 35 40 Для проведения анализа спектрыисследуемых проб и эталонов фотографируются на Фотопластинках на расстоянии друг от друга несколькобольшим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительноменьше исследуемой фотопластинки 6и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых прирасшифровке спектров. На предметныйстолик 4 закрепляется исследуемаяфотопластинка р вверх эмульсионнымслоем, а...
Устройство для измельчения материала
Номер патента: 1248659
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: B02C 19/18
Метки: измельчения
...случае использования больших рабочих камер 7или больших цавесок порошка. При использовании двух мелющих стержней 9 они притягиваются друг к другу не по всеи длине, а со смещением, что как бы удлиняет стержень 9 и создает при работе устройства требуемую кольцевую зону для истиранияпорошка. Большой мелющий стержень 9предназначен для разбрасывания порошка на периферию рабочей камеры 7 к ее стенкам, где маленькие мелющие стержни 8 за счет взаимодействия с постоянными магнитами 4 истирают порошок, так как они движутся к стенкам рабочей камеры 7 по цепочкам развернутых спиралей магнитопровода.Устройство для измельчения материала работает следующим образом.Согласно методическим указаниям, например, для спектрального анализа в случае...
Устройство для подачи порошковых проб в плазму дуги
Номер патента: 1242775
Опубликовано: 07.07.1986
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: G01N 21/67
Метки: дуги, плазму, подачи, порошковых, проб
...в виде дуг на расстоянии3-7 мм один от другого, Верхние концы пар электродов 5 и 6 подсоединяются кэлектрически несвязанным генераторам высоковольтного импульсногоразряда (ГВИР),50 775 2дух, аргон и т,п), вход которого.осуществляется через транспортнуютрубку 3. Затем включают привод 10вращения, приводящиймагнитопроводно вращение, эа счет которого приводятся в движение стержнч 7, которыеначинают вращаться прижатые магнитным полем к дну рабочей камеры 1, Врезультате движения стержней 7 происходит энергичное дробление, истирание, перемешивание распыляемого порошка, отбрасывание его к стенкамрабочей камеры и переведение порошка во взвешенное состояние, При этомлишь ничтожная часть мелкодисперсного порошка увлекается газовым потофком и...
Устройство для измельчения материалов
Номер патента: 1202620
Опубликовано: 07.01.1986
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: B02C 19/18
Метки: измельчения
...камеры 6В рабочие камеры 6 вместе с измельчаемой пробой помещают ферромагнитные мелющие тела, выполненные в виде стержней 9 из материала с высокой магнитной проницаемостью, например, из стали, длиной 7-13 мм и диаметром 1-3 мм. При этом расстояния между рядом расположенными магнитами 4 выбирают такими, что. бы они не превьппали длины стержней 9. Устройство работает следующимобразом. Согласно методическим указаниям,например, для спектрального анализа в случае использования метода просыпки необходимо измельчение навесок в 300 мг до крупности менее 300.Для этого в рабочие камеры 6 (например, стеклянные цилиндрические сосуды или Фарфоровые тигли диаметром 10-25 мм) помещают навески иэмельчаемых проб и стержни 8(например, три...
Разгрузочное устройство для весов
Номер патента: 1089429
Опубликовано: 30.04.1984
Авторы: Аполицкий, Слесарев
МПК: G01G 23/02
Метки: весов, разгрузочное
...цель достигается тем,что в разгрузочном устройстве дпявесов, содержащем чашку с поднес- ЗОкой и механизм ее поворота, установленный на основании, механизмповорота чашки выполнен в виде шар"нирно соединенных между собой прижимной вилки и рамки, шарнирно при- З 5крепленной к основанию, установленнойу с возможностью регулировки егоположения относительно чашки весов,причем чашка снабжена жестким каркасом с выступами, выходящими за 40пределы чашки, подвеска которойвыполнена из эластичного материала.На чертеже изображено устройство, фобщий вид.Разгрузочное устройство для весов содержит чашку 1 весов, выполненную из алюминиевой фольги и снаб- .женную жестким каркасом 2 с выступами 3-5, выходящими за пределычашки, подвеска 6...
Устройство для эмиссионного спектрального анализа
Номер патента: 1087847
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/68
Метки: анализа, спектрального, эмиссионного
...что в устройстве для эмиссионного спектрального анализа, состоящего из четырех электродов, соединенных с системами низковольтного питания дуги и поджигающих высоковольтных контуров, приспособление подачи порошкового материала в межэлектродное пространство, электроды установлены с нак лоном 45-55 относительно горизонтальоной плоскости и попарно между собойопод углом 45-60, а их концы расположены в одной плоскости, при этом системы низковольтного питания дуги подключены к каждой паре электродов, рас 2оложенных в перекрестном направлении,электрически не связаны между собой.На фиг.1 изображено схематическоепространственное расположение электроов; на фиг.2-электрическая схема предагаемого устройства,Устройство для эмиссионного...
Магнитный смеситель
Номер патента: 801863
Опубликовано: 07.02.1981
Авторы: Аполицкий, Остроумов
МПК: B01F 13/08
...методическим указаниямпо проведению анализов выбирают соотношение перемешиваемых компонентови их крупность, Например, для спектрального анализа берут соотношениепробы и буФерного порошка 1:1, нкрупность смеси 200 меш, Даннуюсмесь помещают в сосуды 10, в каждом 20из которых размещены стержни 11, 12и 13, Сосуды 10 устанавливают настолике 16 в отверстия 14 кассетнойподставки 15, Включают электродвигатель 2, вал которого приводит в 5движение держатель 3 с магнитами 4,5,6,7,8 и 9, При вращении держателя3 по часовой стрелке южный полюсмагнита 4 приближается ко дну сосуда 10, 30В пределах дна магнит 4 в держателе 3 движется поступательно, Поддействием магнитного поля магнита 4стержни 11, 12 и 13 в сосуде 10 поляризуются,...