Основанных на использовании фотографических эффектов — G01J 1/52 — МПК (original) (raw)
Способ измерения температуры образцов при контактной сварке
Номер патента: 121269
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Орлов, Чулошников
МПК: G01J 1/52
Метки: контактной, образцов, сварке, температуры
...температурных полей производится следующим образом, В нужном масштабе изготавливаются плоские модели сечений свариваемых изделий. Для изделий толщиной до 2 мм, масштаб выбирают с 8 - 20-кратным увеличением. Длина пластин произвольная, порядка 100 - 150 мм, Ширина каждой пластины соответствует реальной толщине свариваемых изделий, увеличенной в соответствии с выбранным масштабом, Сварочные ролики изготавливаются с реальной формой электродов, а размеры увеличиваются в соответствии с масштабом,Режим сварки выбирается таким образом, чтобы сохранилась удельная плотность тока, имеющая место при реальной сварке. Удельное давление на электроды должно быть равно удельному давлению при реальной сварке. Время сварки изменяется пропорционально...
154133
Номер патента: 154133
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01J 1/52, G03B 7/02, G03C 5/02 ...
Метки: 154133
...,)ЯГП 110 ДСВСН 5 СП 1 ССТ 11 ООЪЕКТЯ, И.ЕО 1 Ц(.ГО КДЭффИЦИСНТ ОТРЯЖС 5 РЯВ 1:П СПС,;ТИ ОТЛИЧИЯ ПОЗВОЛЯ:0 :12(:1 ТЕЛЬНО 5 1;.)ОСТКТ. ОП ДСДЕЛЕНЕ ЭКСПО- зппп:1 10:(аряктеристицеской кпивойПозыс Ггь с:д тс к ость.1.2 иертежс изддрджеп 1 .;драк с)1 стпеск 251 к;) 1 вдя плспкп .1, Г 1, пост поенная нд экспо 1" :(,".:(с:д ;, .",;.:. 1 Япрп ,с(к - . рео етс 57 д:")С,"елить )соо:элиму 0 осве:(сппдс ". ( :с.Оз(кд лля пдлсисния плдтОсти еГО изООряжения, равпой 1,ъ, Г 5 этд 0 па;О пд:5 по)кпть сддтвстствоццс 10 этОЙ плотности 0;зце 11 Ос 5 ь о . д 32)1 епя Геаь, л 51 1)ешения этОЙ же з ад 1 и НО 5,) кости, 5 Эе 1)5 с:ОЙ В едии ипкяпосильояк, достатОп 0 э Олько помножить ОсВещениость па плеке:3ЗПЯ)ЕИЯТРЛ 1.Я 1Г)Ы. О(М;Я 5)КОСТЬ ЛИНЯ;ОГЖИс ДЯВ и...
Фотометр
Номер патента: 711378
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Кондратьев, Письменный, Рахимов, Саенко
МПК: G01J 1/52
Метки: фотометр
...светопровода 11 регчстрируетприе ником излучения 1 2 ср гнал с 24которОго испОльзуется для запуска Осциллографа и одновременно соединен с входом порогового устройства 13 с регулируемым уровнем порогового значеничсигнала. Пороговое устройство управляет ЗОрабоОй генератора мпуьс 14, соединенного с регулятором Яркости луча Осциллографа, н работой генератора счетных импульсов 15, соединенного с цересчетным устройством 16, 35Фотометр работает следующим образомвПенка 2 крепися на барбац 1 сузким зазором по окружности, Запускосциллографа 7 настроен на сигнал полной интенсивности зондирующего излуче- щния, который регистрируется приемником излучения 12 и происходит в моментпрохождения зазора через зондирующийЛУЧ, те Ео НаЧаЛО РЙЗВЕРтЗИ СО ВП...
Способ локального определения концентрации окрашивающей примеси в кристаллах
Номер патента: 872976
Опубликовано: 15.10.1981
Авторы: Белая, Добровинская, Литвинов
МПК: G01J 1/52
Метки: концентрации, кристаллах, локального, окрашивающей, примеси
...в отдельных точках исследуемоге и нулевого образца пересчитывают по характеристической кривой и определяют значение логарифмов интенсивности нулевого 2 ф 0 и исследуемого образца Вф, Зная отношение 1 ф/1 фо и предварительно построив градуировочную кривую 193 /3910=(с) для образцов с извествеличину отношения,д 3/930 для образцов с известной концентрацией каксуммарного хрома, так и хрома, изоморфко входящего в кристалл, строятградуировочную зависимость 192/фо=,=Г(с) см, черт. Для определения концентрации хрома в исследуемом образцепроводят те же операции, что и припостроении градуировочной кривой.1 о Исследуемый образец и нулевой образецодновременно фотографируют на микроскопе МИМна отражение. На эту жеплевку впечатывают...
Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе
Номер патента: 1317289
Опубликовано: 15.06.1987
МПК: G01J 1/52, G01J 3/40
Метки: анализе, визуальном, расшифровки, спектральном, спектров, эмиссионном
...16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17, Между реб - ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.Устройство работает следующимобразом, 5 фотопластинки 6. При этом спектры 50 55 5 10 15 20 25 30 35 40 Для проведения анализа спектрыисследуемых проб и эталонов фотографируются на Фотопластинках на расстоянии друг от друга несколькобольшим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительноменьше исследуемой фотопластинки 6и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых прирасшифровке спектров. На предметныйстолик 4 закрепляется исследуемаяфотопластинка р вверх эмульсионнымслоем, а...
Способ анализа распределения освещенности
Номер патента: 1453186
Опубликовано: 23.01.1989
Автор: Согоконь
МПК: G01J 1/52
Метки: анализа, освещенности, распределения
...получают спектрограмму, на которой наблюдаются темные (или светлые) полосы, на длинах волн, которые могут бытьнайдены иэ соотношения (1). Поскольку цвет изображения меняется вдоль щели спектрографа, то линия на спектрограмме соответствует распределению освещенности в анализируемом пучке,где- длина волны максимума отражения (цвет иэображения),Ьо - длина волны насыщения1 , в , интенсивность, при которойнаступает насыщение,1 - интенсивность света,Ккоэффициент пропорциональности,Таким образом, неоднородности интенсивности анализируемого пучка одно.значно преобразуются в изменении светового оттенка.В процессе регистрации липпмановской фотографии в слое бихромированнойжелатины образуется слоистая структура, в которой чередуются слои с...