Методами интерферометрии — G01J 9/02 — МПК (original) (raw)
Интерферометр для одновременной регистрации интерференционной картины в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях
Номер патента: 129870
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Скоков
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: взаимно-перпендикулярных, двух, интерференционной, интерферометр, картины, одновременной, плоскостях, регистрации
...чертется в приемных частях аждой из двух систем инт конденсаторы 3 - 9. енционную картину, локализо 1 оскости чертежа и оси пучка ых частях 11, 12. Система пучртину, локализованную в плоежа и оси пучков 5 - 10. Кар, 14. Для компенсации рязерференциониых полос служат едмет изобретения ометр для одновременной рсгистряции и в двух взаимно-перпендикулярных плоскос света, ооъектива, плоских зеркал, камеры срфереиционх, состояшииисс те гсемым нтерф пои картинь из источник Известныерегистрации илярных плоскосПредлагаеммомент временв двух взаимнодяч, решаемыхческих исследовНа чертежОбъективовскольким напрП направлениеправление.Система пванную в плос7 - 2, Картинаков П 1 и Л 7 дскости, перпендтина регистрирности хода в ксоответственноне...
168915
Номер патента: 168915
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: 168915
...пластины, а по 5 касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных и эллипсу. вестны интер(рерометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта,Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным - зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в...
Интерферометр для одновременной регистрации
Номер патента: 174001
Опубликовано: 01.01.1965
Автор: Скоков
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: интерферометр, одновременной, регистрации
...поля плотностей в газовых средах путем наблюдения в один и тот же момент времени многолучевой интерференционной картины в двух плоскостях. Интерферометр выполнен в виде двух оптических систем, создающих одновременно две иптерференционные картины, локализованные в двух взаимно перпендикулярных плоскостях.На чертеже представлена схема предлагаемого многолучевого интерферометра.Свет от точечного источника 1 через объектив 2 попадает на полупрозрачную пластину 8, разделяющую падающий пучок света на два параллельных пучка. Один пучок света отражается от зеркал 4 и 4, проходит эталоны 5 и б Фабри-Перо и падает на объектив б,которыи дает изображение плоскости О - О в плоскости приемника 7. Другая часть светового пучка проходит эталоны 8 и...
Двухлучевой интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 192435
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Константиновска
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: двухлучевой, интерферометр, исследования, неоднородностей, прозрачных
...чивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позволяет снизить требования к точности изготовления оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с большим рабочим 2 полем,Применение лазера позволяет увеличить интенсивность интерференционной картины.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого интерферометра. 3 Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает па полупрозрачную пластину 1 и делится на два пучка,Пучок, отраженный от пластины 1, преобразуется в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 8 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5,...
Оптический частотомер
Номер патента: 243106
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01J 9/02
Метки: оптический, частотомер
...колец так, что диаметры колец на од ной маске отличны от диаметров колец на другой на величину не большую, чем половина длины рабочей волны,Предложенное устроиство относится к прикладной оптике. Его можно использовать в спектральных устройствах для измерения сдвига частоты светового излучения, а также в системах связи.Уже известен оптический частотомер со светоделительным элементом в виде двух свето- проводов, расположенных торцами рядом, и двух фотоприемников.Предложенный оптический частотомер отличается от известного тем, что в нем, с целью повышения чувствительности и точности измерения частоты, между объективом,и светопроводами установлена полупрозрачная пластина, а перед светопроводами размещены две маски- негативы с...
Оптический частотомер
Номер патента: 243108
Опубликовано: 01.01.1969
Автор: Зеликсон
МПК: G01J 9/02
Метки: оптический, частотомер
...топриемни лью новы измерения тановлень ных,нейтр ного и ос точке пере рометра,неитральных 2 светопроводас фотоприемПредложенное устройство относится к прикладной оптике. Оно может быть использовано в спектральных устройствах для измерения сдвига частоты светового излучения, а также в системах связи.Уже известен оптический частотомер со светоделительным элементом в виде двух свето- проводов, расположенных торцами рядом, и двух фотоприемников.Предложенный оптический частотомер отличается от известного тем, что для повышения чувствительности и точности измерения частоты перед светопроводами установлены два последовательно расположенных нейтральных клина, причем вершина одного и основание другого соприкасаются в точке пересечения ими...
Интерферометр для газодинамических исследования
Номер патента: 244665
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Комиссаров, Харитонов
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: газодинамических, интерферометр, исследования
...на них света, Пласти.5 ны б и б установлены под углом 45 к оппи.ческой оси,прибора (наиболее оптимально с учетом габаритов их и удобства,в настройке) .Отраженный от пластины б пучок света совмещается с,пучком света, прошедшим через О пластину б с помощью соединительной полу.прозрачной пластичны 7; эта пара пучочков света совмещается с пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через камеру 8 с исследуемой неоднородностью 8. При, этом в приемной части 9 интерферометра, в одной из,половин поля зрения, наблюдается трехлучевая интерференционная картина; в другой - двухлучевая картина, образованная пучком света, прошедшим через пластилину 5, и соответствующим пучком света рабочей ветви интерферометра, прошедшим через соседний...
Способ диагпостики ионизированных газовыхсред
Номер патента: 246710
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: газовыхсред, диагпостики, ионизированных
...сигнала излучения го лазера, от,гичаюигийсг тем, что, с определения параметров среды, наприонцентраций свободных электронов, атомолекул, а также массовой плотности влено 02.Х,1967 ( 1187783/26-2рисоединением заявкиДанное изобретение относится к области методов измерений параметров газоразрядной плазмы. Ряд известных в настоящее время способов диагностики плазмы с использованием газсвых лазеров основан на получении с помощью интерферометров различного типа Интерференционных картин и дальнейшей их интерпретации.Применение в качестве источника света газового лазера не приводит в этих известных способах к существенному увеличению точности определения коэффициента преломления исследуемой плазмы, в результате оказывается возможным...
Способ интерференционных измерений плотности потока в газовой динамике
Номер патента: 280920
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: газовой, динамике, измерений, интерференционных, плотности, потока
...2. Определяют угол 20 от между этой касательной и направлениемневозмущенного потока (осью О - Х),По углу ф и числу Маха невозмущепногопотока М, замеренному в эксперименте, вычисляют отношение плотностей за и перед 25 ударной волной, равноеПредмет изобретения Выбирают две темные пнтерференционные полосы 3, проходящие вблизи ударной волны. Отмечают точки В и С пересечения этих полос с прямой х=сопз 1, Отрезок АС должен быть таким, чтобы внутри него зависимость плотности от радиальной координаты г была близка к линейной. При этом длины отрезков АВ и ВС должны по крайней мере в 3 - 5 раз превышать погрешность измерения этих длин.Измеряют расстояния от точек А, В и С до оси симметрии - соответственно гх, гв и тс, Результаты измерений...
Интерферометр для диагностики плазмы
Номер патента: 315102
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Коробкин, Тницкий, Якушев
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02, G01N 21/45 ...
Метки: диагностики, интерферометр, плазмы
...10, и,попадает на фотоумножители 24 и 25. Частота лазера 2 устанавливается в выбранные точки кривых пропускания резонаторов интерферометра. При изменении расстояния между зеркалами 5, б (или 9, 10) изменяется величина сигнала, снимаемого с фотоумножителя 24 (или 25). Это изменение усиливается усилителем 30 (или 31) и подается на пьезоэлектрик 32 (или 33), компенсирующий изменение длины резонатора лазера 1 (или резонатора 3),Однако при этом изменение интенсивности излучения лазера 2 воспринимается системой стабилизации как изменение пропускания резонаторов лазера 1 и интерферометра 3, т, е. как изменение их длин, и ложно компенсируется, Так как кривые пропускания резонатора лазера 1 и резонатора 3 различны, нарушается постоянство их...
Устройство для исследования оптических свойств веществ
Номер патента: 315994
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Зеликсон
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: веществ, исследования, оптических, свойств
...прп взаимном вращеци диафрагм 4 ц 6 площадь перекрытия отверстий изменялась цо гармоническому закону. Вертикальная ц горизонтальная развертка отклоняющих систем 11 подключена к Гсц.р втору Гарх 1 оццческого ца 11 р 51 женця со сдвигом фаз между собой в 90 для создания10 вращающегося поля, К кольцевому электроду 9 приложено напряжение несколько цике катодного, а к аксиальному электроду 10 - выше катодного. Выход диссектора соединен с регистрирующим прибором, например, многоканальным самописцем через узкополосные усилители.Луч света источника 1 зондирует исследуемую среду 12 и фиксируется приемным обьективом 2 в плоскости первой диафрагмы 4 - фотокатода диссектора 3, при этом прямой луч проходит в центральное отверстие б диафрагмы 4, а...
Устройство для исследования прозрачных неоднородностей
Номер патента: 409118
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: исследования, неоднородностей, прозрачных
...1, 2, ), ), 7, 8, 9, 10. 51 ецяя осветительные 5 и визуализирукнцце 9 л, фрг 1 ь 1, можно настраивать устройство для работы цо одному из следующих теневых мс)гОв: щслц; ножа, щели и пити, цветцы; изображений, рясфокусировацных штриховы; ;.1 и)фря м, я также цо мстодям ди 1ЯкиОнно 409118го, поляризационного и зеркального интерферометров сдвига.Для перенастройки предлагаемого устройства по автоколлимационной схеме с двухкрагным просвечиванием неоднородности параллельным пучком необходимо ввести светоделительный кубик 11 и плоское зеркало 12. В этом случае используются элементы 1, 2, 8, 7, 8, 12, 9 10 (штрихами помечены позиции элементов в новом положении). 1 ОДля настройки устройства по автоколлимационной схеме с двухкратным...
Всесоюзнаяятент1ш. гехн11ггн(д; ,
Номер патента: 363022
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: всесоюзнаяятент1ш, гехн11ггн(д
...резонатора и, следовательно,об изменении показателя преломления среды,В известном способе частоту излучения лазера устанавливают в некоторую точку одногоО из максимумов пропускания резонатора интерферометра и удерживают ее в этом положении с помощью системы стабилизации. Изменение показателя преломления среды в резонаторе интерферометра приводит к смеще 5 нию максимума пропускания интерферометраотносительно лазерной линии (в том случае,если характерное время этого изменения тменьше характерного времени установлениясистемы стабилизации т,т). При этом максиО мальное измеряемое изменение показателяпреломления пропорционально ширине кривоймаксимума пропускания, в то время, как точность измерения обратно пропорциональнаширине,5 В...
Двухлучевой интерферометр
Номер патента: 838422
Опубликовано: 15.06.1981
Авторы: Алексеев, Базаров, Сверчков, Телегин
МПК: G01J 9/02, G01K 11/32
Метки: двухлучевой, интерферометр
...чувствительности к ее светоделителем 3 на два пучка. Одинизменению. оптический пучок направляется в свеПоставленная цель достигается тем, товод 4, на выходе которого он смешичто в двухлучевом интерферометре с . вается с другим оптическим пучком иопорным и измерительным каналами,со поступает на приемник 6 излучения,держащем источник излучения, светоде- например интерферометр. В приемниклитель, чувствительный элемент, кон излучения при слтожении двух когеретактирующий. с исследуемым объектом тных сигналов образуется интерференИ 1 зазмеЩеннЫИ в измерительном канале,ционная картина. В зависимости от титПрИЕМНИК ИЗЛУЧЕНИЯ И рЕГИСтратср, ЧУВ ЗО Па ИитЕрфЕрЕНцИИ НабЛЮдаЮтСя ЛИбО838422 формула изобретения где и Т Д ю Чувствителтройства тем...
Дисперсионный интерферометр
Номер патента: 864942
Опубликовано: 15.09.1981
Авторы: Алум, Ковальчук, Островская
МПК: G01J 9/02
Метки: дисперсионный, интерферометр
...8, светофильтр 9, объектив5 и регистрирующий материал 6.Работа устройства по первому вариантуз 0 осуществляется следующим образом.3При освещении интерферометра лазерным излучением с частотой и, часть этогоизлуче. ния преобразуется в излучение гармоники с частотой а = 2 ц 1 в первом нелинейном элементе 1. Таким образом, исследуемый объект просвечивается двумя длинами волн 3 и Х с частотами а, и нд. При прохождении через второй нелинейный элемент частота о, частично преобразуется в длину волны Х с частотой о. Светофильтр 4 обрезает излучение основной частоты. В результате на выходе интерферометра остактся две длины волны Х и Х излучения гармоники, одна из которых (Х) преобразована из в 1 до прохождения через объект, а вторая (Х) после...
Интерференционный датчик волнового фронта
Номер патента: 1024746
Опубликовано: 23.06.1983
Авторы: Витриченко, Пушной, Тартаковский
МПК: G01J 9/02
Метки: волнового, датчик, интерференционный, фронта
...Т,Кугрышева ТехредЛ. Пекарь КорРектор А,ПовхПодписное 1/37 Тираж 873ВНИИПИ Государственного коМитета Спо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 лиал ППП фПатент, г,ужгород, ул.Проектная литуду Ъ.и фазув соответствии справ илами где Г - оператор вычисления арктангенса по модулю .22.фПри работе датчика интерферометр Щ 1 настраивается таким образом, чтобы число полос в интерференционной картине превышало максимальную частоту в спектре пространственных частот исследуемой волны по крайней мере в три раза. Эффективную ширину спект рального окнами д) выбирают, используя априорную информацию об исследуемом объекте, например, распределение дефектов по поверхности оптической детали или их чаототный спектр. При...
Способ определения оптической плотности фазовых объектов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1139977
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Денчев, Жиглинский, Рязанов, Самохин
МПК: G01J 9/02
Метки: объектов, оптической, плотности, фазовых
...пластинки 11 поляризованное излучение блока 12 вводится в резо натор лазера на красителе и инициирует вынужденные. переходы молекул последнего, ориентированные под разными углами к оси резонатора. При этом с-помощью оптической линзы за". 10 держки 2 обеспечивают такое частичное наложение во времени инициирую- щего излучения и излучения оптической накачки красителя, что индуцированное излучение молекул имеет длитель ность, меньшую или равную 2 Ь/с сек, где Ь - длина резонатора лазера на красителе, с - скорость света. Таким образом, в направлении светоделителя интерферометра Майкельсона 20 распространяется импульс индуцированного излучения красителя, поляризационные составляющие которого когерентны в отличие от случая возникновения...
Способ измерения длины волны монохроматического излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1026538
Опубликовано: 23.03.1985
Авторы: Абрамов, Буковский, Томашевский, Торопов
МПК: G01J 9/02
Метки: волны, длины, излучения, монохроматического
...,лонного и измеряемого излучений в интервале, ограниченном моментамисовпадений фаз интерференционных сигналов, счет ннтерференционных полос производят между всеми совпадениями во всем интервапе счета, фиксируют результаты .счета числа интерференцнонных полос от эталонного Р и от измеряемого Р источников между сов-, падениями ближайших к центру групп равноотстоящих совпадений в начале и конце интервала счета, н находят измеряемую длину волны Л, по формулеРзЪ=А,ригде- длина волны излучения эта"лонного источника.В устройство для измерения длины волны монохроматического излучения,538 49, входы оперативного запоминающегоустройства 10 соединены с выходамисчетного регистра совпадений 9 так,что первый вход оперативного запоминающего устройства...
Устройство для измерения длин волн лазеров
Номер патента: 1122088
Опубликовано: 30.06.1985
Авторы: Бурнашев, Крылов, Миронов, Привалов
МПК: G01J 9/02
...12 и 13. По цепи . переключения ключ 12 связан с модулирующим пьезоэлектрическим преобразователем 4 и генератором спорного напряжения 14, а ключ 13 - с выходом амплитудного детектора 11 и с одним иэ входов сумматора 15. фотоприемник 16 с помощью светодели тельного зеркала 17 оптически, связан с эталонным лазером 1 и подключен к усилителю 18. Умножитель частоты 19 соединен с генератором опорного напряжения 14 и одним из входов синхронного детектора 20, другой вход которого соединен с усилителем 18, Выход синхронного детектора 20 связан с одним из входов компаратора 21, другой вход которого соединен с корпусом, а выход - с вторым входом сумматора 15. Выход сумматора 15 соединен с входами регистратора 22 и частотомера 23, другой вход...
Интерференционно-теневое устройство
Номер патента: 1179744
Опубликовано: 23.03.1986
Авторы: Давыдов, Дрейден, Островский, Этинберг
МПК: G01B 9/02, G01J 9/02
Метки: интерференционно-теневое
...полупрозрачных зеркал 2 и 3 интерферометра, непрозрачных зеркал 4 и 5 интерферометра, объектива коллиматора 6, объектива регистрирующей системы 7, исследуемой фаэовой неоднородности 8, виэуализирующей диафрагмы 9, узла 1 О ре" гистрации интерферограммы и узла 11 регистрации шлирен-фотографии. Диафрагма 9 выполнена в виде зеркала с прозрачным,отверстием или зеркально отражающего экрана на прозрачном слое и установлена в фокусе объектива, а ее плоскость составляет с оптической осью и направлением на узел шлирен-фотографии равные углы, Диаметр отверстия в диафрагме зависит от параметров использованной оптики, характера исследуемой неоднородности и лежит в пределахр й с 2 Г - Ы,1 йп где Г - фокусное расстояние линзы 7;и - показатель...
Способ измерения продольной корреляционной функции поля оптического излучения
Номер патента: 1239529
Опубликовано: 23.06.1986
Авторы: Ангельский, Максимяк, Полянский
МПК: G01J 9/02
Метки: излучения, корреляционной, оптического, поля, продольной, функции
...оптике и может быть использовано для измерения продольных корреляционных функций оптических полей.Цель изобретения - повышение точности измерения за счет измерения азимута и поляризации оптического излучения.На чертеже приведена блок-схема устройства для осуществления способа.10Устройство содержит следующие блоки-операторы, размещенные последовательно: иэлучательный блок 1, светоделительный блок 7 нанесения оптической разности хода, блоки 4 управ ления интенсивностями пучков, поляризованные блоки 5, смесительный блок 6 блок-анализатор 7 состояния и степени поляризации, фотоэлектрический блок 8 регистрации 20Способ осуществляют следующим об разом.Свет от иэлучательного блока 1 направляют на светоделительный. блок 2, где его...
Измеритель длин волн
Номер патента: 1247674
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Абрамов, Бобрик, Буковский, Райхерт, Томашевский, Торопов
МПК: G01J 9/02
Метки: волн, длин, измеритель
...11 х длин .волн зеркалами 3 и 4 и светоделителем 5 совмещается по направлениюи разделяется на два параллельных .пучка, которыми освещается интерферометр. Интерферометр представляетсобой схему интерферометра Кестерсаи имеет два поля интерференции, разность хода в которых отличается навеличину ступеньки К на зеркале 8 ине зависит от положения подвижногозеркала 7., Поэтому для исключениявлияния дисперсии показателя преломления атмосферы достаточно вакуумировать плечо интерферометра с помощью камеры 9.Селективные зеркала 10 и 11 установленные в каждом поле интерференции, разделяют излучения измеряемойи опорной длин волн и направляютизлучение на Фотоприемники 12 и 13опорной длины волны и Фотоприемники14 и 15 измеряемой длины волны,"Блоки...
Устройство для аттестации фазовых пластин
Номер патента: 1249347
Опубликовано: 07.08.1986
Автор: Кузнецов
МПК: G01J 9/02
Метки: аттестации, пластин, фазовых
...Ь =(21+ а(Й - толщина пластины 6, / - показатель двупреломле ния, 3 - длина волны). После анализатора 7 амплитуды этих лучей становятся равными Е /2. Оба рассматриваемых луча возникают из одного линейно поляризованного луча, поэтому они коге О рентны и могут интерферировать. Еслиполуцелое число, оба луча максимально усилят друг друга и поле при рассмотрении через анализатор окажется просветленным, Если К - целое 55 число, лучи полностью погасят друг друга, и поле останется. темным, При освещении системы белым светом усло 47 2вия максимального усиления или ослабления осуществятся не одновременнодля лучей разных длин волн. Развертка по спектру осуществляется с помощью монохроматора 9 в виде чередуюшихся светлых и темных полос, Ввведение...
Способ определения характеристик роста кристаллов в растворе
Номер патента: 1290092
Опубликовано: 15.02.1987
Авторы: Мкртчян, Рашкович, Шустин
МПК: G01J 9/02
Метки: кристаллов, растворе, роста, характеристик
...на экран телевизора 11 вточке с наименьшим порядком изображения интерференционной картины. 2Сигнал с фотоприемника усиливают усилителем 13,и регистрируют самописцем 14. Сначала по сигналу с фотоприемника регистрируют период Т изменения порядка освещенности во времени и определяют нормальную скорость роста грани кристалла В из о м лы: фруВгде 9 - длина в олны св ета;- показатель преломления раствора.Затем перемещают фотоприемник с областью постоянной освещенности пер пендикулярно интерференционным полосам и регистрируют скорость Ч движения полосы, а по измерениям расстояния между полосами Й определяют наклон вицинальных холмов Р иэ формулы:Р2 пй Предлагаемый способ позволяет одновременно измерять характеристики роста кристалла твид...
Многолучевой интерферометр для спектральных и поляризационных измерений
Номер патента: 1346955
Опубликовано: 23.10.1987
МПК: G01J 9/02
Метки: измерений, интерферометр, многолучевой, поляризационных, спектральных
...поляризации на угол 45 , ао анизотропные пластины 4 и 6 - в виде четвертьволновых линейных фазовыхЗБ пластин, Пластины 4 и 6 установлены так, что их оптические оси перпендикулярны оси интерферометра и образуют с осью перепускання поляризатора 1 углы 45 и 90 соответственно. Зеркало 7 имеет коэффициент отражен ния, близкий к единице, а зеркала 3 и 5 выполнены частично пропускающими,График аппаратной Функции интерФерометра (фиг.2) дан для случая, когда поляризатор является идеальным, энергетические коэффициенты отражения зеркал 3 и 5 равны 0,8, а оптическая длина отрезка между зеркалами 5 и 7 составляет 1/14 часть оптической дли-.Щ ны отрезка между зеркалами 3 и 7.Интерферометр работает следующим образом.Линейно поляризованное излучение...
Вакуумный фурье-спектрометр
Номер патента: 1435957
Опубликовано: 07.11.1988
Автор: Арзамасцев
МПК: G01J 9/02
Метки: вакуумный, фурье-спектрометр
...вершине 2 а, а диаметр основания конуса Б = 2 У определяет траекторию, описываемую точкой фокуса внеосевого параболоида,в которую устанавливают источникиизлучения 8 . Высота конуса и, Ось12 исходного параболоида при указанном вращении описывает цилиндрическую поверхность с диаметром оснований 0 и высотой, равной фокусному расстоянию исходного параболоИсх,йВ осветительную систему интерферометра (фиг. 2) входят поворот 55ный на два фиксированных положенияколлиматор 13 на основе внеосевогопараболоида с углом внеосевистости сх, поворотные зеркала 14 и 15, источники излучения - штатный 16 и внешний 17, Переключение источников осуществляется поворотом на 180 о внеосевого параболоида снаружи камеры зя рукоятку 8, жестко соединенную с валиком...
Сканирующий интерферометр типа маха-цендера
Номер патента: 1469364
Опубликовано: 30.03.1989
Автор: Тынниссон
МПК: G01J 9/02
Метки: интерферометр, маха-цендера, сканирующий, типа
...являетсяповышение вибростойкости устройстваУказанная цель достигается тем, чтосканирующий элемент, установленныйв одно из плеч интерферометра, выполнен в виде призмы с возможностьюее поступательного перемещения. Этопозволяет использовать устройство вусловиях повышенной вибрации. 1 ил. после чего пучки соединяются на светоделителе 2. При перемещении призмы 5 по направлению, указанному стрелкой, вследствие изменения оптической длины пути в призме 5 происходит ска нирование интерферограммы,Так как призма 6 идентична призме 5, происходит компенсация аберрации, возникающей вследствие клиновидности сканирующего элемента. Призма 5 устанавлива мещается таким образом, сканировании пучок не и пространстве, призма 6 ся идентично призме 5,...
Способ определения контраста интерференционного поля
Номер патента: 1658041
Опубликовано: 23.06.1991
Авторы: Комиссарова, Островская, Островский, Филиппов, Шедова
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45, G03H 1/00 ...
Метки: интерференционного, контраста, поля
...артгцы, что существенно ограничивает его применение в случае гцторйеренциоццых полей высокой пространственной частоты, В предлагаем: способе измеряют усредненные по большой площади характеристики интерференционной картины и плотностиэнергии поля, что приводит к существенному упрощению как методики измерений, так и используемой аппаратуры.:1 ногие материалы, такие, как мет.ллцзированные слои, скачкообразно изменяют свое пропускание (отражение) вследствие нагрева падающим излучеццем. Такие материалы практически цеселективны и могут работать в широом спектральном диапазоне от ультрафиолетовой до далевой инфракрасной областей спектра. В этом случае ,.ос-.игается еще и существенное расширение спектрального диапазона его...
Способ определения параметров поля в пучке электромагнитного излучения
Номер патента: 1363938
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Смирнов
МПК: G01J 9/02
Метки: излучения, параметров, поля, пучке, электромагнитного
...щелями, стекловолоконныйблок 4 разводки оптического сигнала, фотоприемные устройстгде А - комплексная амплитуда источника;(ХХ ) - функция амплитудного пропускания элементарной ячейкитранспаранта;Б(Х,Х,) - функция источника, характеризующая его форму и раз.меры;Ь(ХХ ) - импульсный отклик транспа"ранта учитывающий его размеры и влияние свободногопространства как фильтранизких частот;С - комплексная амплитуда эле"гментарного изображения в условиях бесконечной апертурытранспаранта и точечных источников освещения с единичной амплитудой.Размеры источников и элементарных ячеек транспаранта таковы, что размноженные изображения не перекрываются, а расположение источников таково,что изображения от каждого нэ нихсмещены одно относительно другого...
Шахтный интерферометр
Номер патента: 1703994
Опубликовано: 07.01.1992
Авторы: Лисогорская, Салоид
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: интерферометр, шахтный
...2 и после отражения на входном поворотном зеркале 3 попадает на вход призмы Кестерса 4. В этой призме происходит разделение светового пучка на два потока, параллельно выходящих из призмы Кестерса 4. Один луч с выхода призмы Кестерса 4 проходит только в полости. заполненной эталонной газовой смесью 5. а другой луч - только в полости, заполненной исследуемой газовой смесью б, Обд луча, пройдя соответственно камеры 5 и б, отразившись от уголкового отражателя 7, далее снова через камеры 5 и б поступают нд компенсирующую призму 8, После отражения от компенсирующей призмы 8 оба луча снова проходят камеры 5 и б и, отраэившсь от уголкового отражателя 1, через камеры 5 6 поступают после отрджения от боковых граней призмы Кестерса 4 на ее...