Scanning probe microscopy (original) (raw)
Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei welchen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linsen) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt.
| Property | Value |
|---|---|
| dbo:abstract | مسح المجهر التحقيقي يعد المجهر التحقيقي SPM أحد أنواع المجاهر الذي يشكل صور الاسطح باستخدام اداة ماديه تقوم بفحص العينة. ويتم الحصول على صوره سطحيه بتحريك المسبارميكانيكيا بمسحه نقطيه للعينه سطرا بسطروتسجيل تفاعل المسبار سطحيا كوظيفة للموقف. اكتشف المجهر التحقيقي SPM عندما اخترع مجهر المسح النفقي (المجهر الأنبوبي الماسح) في عام 1981.ان العديد من المجاهر التحقيقيه يمكن ان تصور عدة تفاعلات في وقت واحد. يطلق على طريقة التفاعلات التي تحدث عند الحصول على صوره بالصيغة. ان الحل يختلف من تقنية إلى أخرى ولكن بعض تقنيات المسابيرالتحقيقيه تحقق حلول عجيبه بدلا من الذرية انهم مدينون بشكل كبير إلى قدرة هذه المحركات لتنفيذ الاقتراحات الكهروضغطية بتفصيل ودقه على المستوى الذري أو أفضل على القيادة الالكترونية. ومن الممكن وعل ى نحو صحيح استخدام هذه المجموعة من التقنيات (التقنيات الكهروضغطيه. القاسم المشترك الآخرهو البيانات التي عادة يتم الحصول عليها على شكل شبكة ثنائية الأبعاد من نقاط البيانات، تظهر في لون خاطى كصورة كمبيوتر. (ar) Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei welchen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linsen) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt. (de) Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981. Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm). (es) La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement. La microscopie en champ proche est donc devenue en quelques décennies un outil indispensable pour la recherche scientifique, notamment dans le développement des nanotechnologies et l'industrie des semi-conducteurs. (fr) Craobh den is ea micreascópacht tóireadóir scanta. Tá raon micreascóp éagsúil ann anois atá bunaithe ar theicníocht ina ndéantar dromchla samplach a iniúchadh le barr tóireadóra a scantar i leith an dromchla sin. Sa mhicreascóp tollánach scanta (STM) is iad na leictreoin thollánacha istigh sa dromchla seoltach a dhéanann an íomhá. I micreascóp fórsa adamhaigh (ATM) is é an fórsa ar bharr an tóireadóir scanta ag gach pointe de dhromchla seoltach nó neamhsheoltach a íomháítear. Déantar airíonna dromchlacha maighnéadacha is leictreacha a thréithriú is a íomháú ach cinn brata chuí a úsáid sa scanadh. Mar shampla, i micreascópacht poitéinsil leictrigh scanta (SEPM) úsáidtear tóireadóir brata le platanam chun an dromchla is a bhfuil air a mhapáil. I micreascóp optúil neasréimse scanta, faightear íomhánna optúla le taifeach 10 nanaiméadar nó mar sin ach úsáid a bhaint as solas ó shnáithín an-mhín chun an dromchla a scanadh, rud a sheachnaíonn teorainn an díraonta a tharlaíonn i ngnáthmhicreascóip de bhrí go bhfágann an léas solais an snáithín an-ghar don dromchla samplach. Úsáidtear micreascóip scanta in an-chuid feidhmeanna: seiceáil slisní leathsheoltóra is dioscaí optúla le linn a ndéanta, breathnú ar chealla, próitéiní, baictéir is víris in situ. Cheap Binnig, Quate is Gerber an teicníocht micreascópachta seo le tóireadóir scanta i 1986. (ga) Scanning probe microscopy (SPM) is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. SPM was founded in 1981, with the invention of the scanning tunneling microscope, an instrument for imaging surfaces at the atomic level. The first successful scanning tunneling microscope experiment was done by Gerd Binnig and Heinrich Rohrer. The key to their success was using a feedback loop to regulate gap distance between the sample and the probe. Many scanning probe microscopes can image several interactions simultaneously. The manner of using these interactions to obtain an image is generally called a mode. The resolution varies somewhat from technique to technique, but some probe techniques reach a rather impressive atomic resolution. This is due largely because piezoelectric actuators can execute motions with a precision and accuracy at the atomic level or better on electronic command. This family of techniques can be called "piezoelectric techniques". The other common denominator is that the data are typically obtained as a two-dimensional grid of data points, visualized in false color as a computer image. (en) La microscopia a scansione di sonda (SPM, Scanning Probe Microscopy) è un ramo della microscopia che forma le immagini di superfici usando una sonda fisica che esegue la scansione del campione. Un'immagine della superficie è ottenuta meccanicamente spostando la sonda in un (raster scan) del campione, riga per riga e registrando l'interazione sonda-superficie in funzione della posizione. La SPM è stata istituita nel 1981 con l'invenzione del microscopio a scansione a effetto tunnel. Molti microscopi a scansione di sonda sono in grado di raffigurare molte interazioni simultaneamente. La maniera di utilizzare queste interazioni per ottenere un'immagine è generalmente chiamata "modo". La risoluzione varia alquanto da tecnica a tecnica, ma alcune tecniche di sonda raggiungono una risoluzione atomica piuttosto impressionante. Ciò è dovuto in gran parte alla capacità degli attuatori piezoelettrici di eseguire movimenti con una precisione e accuratezza a livello atomico o meglio in base al comando elettronico. Si potrebbe giustamente chiamare questa tipo di tecniche "piezoelettriche". L'altro denominatore comune è che i dati sono in genere ottenuti come una griglia bidimensionale di punti dati (data points), visualizzati in colori falsi come immagine del computer. (it) 走査型プローブ顕微鏡 (そうさがたプローブけんびきょう、Scanning Probe Microscope; SPM) は、プローブを用いた顕微鏡観察手法の総称である。先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察する。実際の例としては、表面を観察する際、微少な電流(トンネル電流)を利用する走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力を利用する原子間力顕微鏡(AFM)をはじめ、数多くの種類がある。 (ja) Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand. Het is dan ook een veelgebruikte karakteriseringstechniek voor materiaaloppervlakten binnen het vakgebied der materiaalkunde en vastestoffysica. De techniek werd ontwikkeld na de uitvinding van Scanning tunneling microscopy in 1981. SPM heeft een aantal grote voordelen ten opzichte van elektronenmicroscopen: * Het preparaat hoeft niet elektrisch geleidend te zijn; * er is geen hoogvacuüm nodig; * preparaten kunnen zelfs "onder" een vloeistof worden onderzocht; * de kostprijs is aanzienlijk lager dan die van een elektronenmicroscoop. Met deze techniek kunnen verschillende materiaaleigenschappen in beeld worden gebracht, afhankelijk van het soort sonde dat wordt gebruikt. Enkele bekende SPM-technieken zijn: * Atomic force microscopy (AFM), waarbij de vanderwaalskrachten worden geregistreerd; * Magnetic force microscopy (MFM), waarbij de magnetische veldkrachten worden geregistreerd; * Scanning tunneling microscopy (STM), waarbij de stroom van tunnelende elektronen wordt geregistreerd; * (EFM), waarbij de elektrostatische veldkrachten worden geregistreerd; * (LFM); * (SCM), waarbij de elektrostatische capaciteit wordt geregistreerd; * (SICM), waarbij de een electrode als sonde wordt gebruikt (nl) SPM (ang. Scanning Probe Microscope; mikroskop ze skanującą sondą) – ogólna nazwa całej rodziny mikroskopów, których zasada działania polega na: 1. * skanowaniu, czyli przemiataniu pola widzenia mikroskopu liniami, każda linia jest następnie mierzona punkt po punkcie – obraz tworzony na podstawie tych pojedynczych punktów pomiarowych 2. * wybór punktu pomiarowego następuje poprzez poruszanie nad próbką sondy (próbnika) – zasadniczy pomiar określonej właściwości badanej próbki jest dokonywany za pomocą tej sondy. Skanowanie z reguły realizowane jest za pomocą tzw. skanera lub skanerów piezoelektrycznych skonstruowanych najczęściej w ten sposób, że próbka może poruszać się względem głowicy mikroskopu z sondą (lub głowica względem próbki) w 3 wymiarach. Poruszanie poziome zapewnia wybór kolejnych linii obrazu (współrzędna y) oraz skanowanie linii (kolejne punkty – współrzędna x). Skaner pionowy – z reguły o większej rozdzielczości – zapewnia uzyskiwanie zmiany pionowego położenia sondy względem próbki (współrzędna z). (pl) Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM — scanning probe microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен (принципы этого класса приборов были заложены ранее другими исследователями) Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике в 1986 году, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: * зонда, * системы перемещения зонда относительно образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам, * регистрирующей системы. Регистрирующая система фиксирует значение функции, зависящей от расстояния зонд-образца. Обычно регистрируемое значение обрабатывается системой отрицательной обратной связи, которая управляет положением образца или зонда по одной из координат (Z). В качестве системы обратной связи чаще всего используется ПИД-регулятор. Основные типы сканирующих зондовых микроскопов: * Сканирующий атомно-силовой микроскоп * Сканирующий туннельный микроскоп * Ближнепольный оптический микроскоп (ru) 掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用物理在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡的统称。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在纳米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕，这是一种用于在原子水平表面成像的仪器。第一次成功的扫描隧道显微镜实验由Binnig和Rohrer完成。他们成功的关键是使用反馈回路来调节样品和探针之间的间隙距离。 许多扫描探针显微镜可以同时用几种相互作用来成像。使用这些相互作用来获得图像的方式通常被称为模式。 (zh) Скануючі зондові мікроскопи (СЗМ, англ. SPM — Scanning Probe Microscope — клас мікроскопів для отримання зображення поверхні та її локальних характеристик. Процес побудови зображення заснований на скануванні поверхні зондом. У загальному випадку дозволяє отримати тривимірне зображення поверхні (топографію) з високої якості. Скануючий зондовий мікроскоп в сучасному вигляді винайдений (принципи цього класу приладів були закладені раніше іншими дослідниками) Гердом Карлом Біннігом і Генріхом Рорером в 1981 році. За цей винахід були удостоєні Нобелівської премії з фізики в 1986 році, яка була розділена між ними і винахідником трансмісійного електронного мікроскопа Е. Руска. Відмінною особливістю СЗМ є наявність: * зонда, * системи переміщення зонда щодо зразка по 2-м (X-Y) або 3-м (X-Y-Z) координатам, * реєструючої системи. Система реєстрації фіксує значення функції, що залежить від відстані зонд-зразка. Зазвичай реєстроване значення обробляється системою від'ємного зворотного зв'язку, яка керує положенням зразка або зонда по одній з координат (Z). В якості системи зворотного зв'язку найчастіше використовується ПІД-регулятор. (uk) |
| dbo:wikiPageExternalLink | https://wecanfigurethisout.org/VL/SPM_operation.htm https://wecanfigurethisout.org/VL/SPM_piezoelectric.htm http://www.nnin.org/education-training/k-12-teachers/nanotechnology-curriculum-materials/scanning-probe-microscopy |
| dbo:wikiPageID | 734585 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageLength | 27089 (xsd:nonNegativeInteger) |
| dbo:wikiPageRevisionID | 1100844057 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageWikiLink | dbr:Electrochemical_scanning_tunneling_microscope dbr:Probe_tip dbr:Atomic_force_microscope dbr:Chemical_force_microscopy dbr:Scanning_thermal_microscopy dbr:Gerd_Binnig dbr:MountainsMap dbr:Conductive_atomic_force_microscopy dbr:Angstrom dbr:Feature-oriented_scanning dbr:Piezoelectricity dbr:Piezoresponse_force_microscopy dbr:Point_spread_function dbr:Scanning_vibrating_electrode_technique dbr:Scanning_electrochemical_microscopy dbr:Heat_map dbr:Advanced_Technologies_Center dbr:Ballistic_electron_emission_microscopy dbr:PID_controller dbr:Diffraction dbr:Digital_Surf dbr:False_color dbr:Fluidic_force_microscopy dbr:Kelvin_probe_force_microscope dbr:Raster_scan dbr:Heinrich_Rohrer dbr:Atomic_force_microscopy dbc:Scanning_probe_microscopy dbr:Picometre dbr:Scanning_Hall_probe_microscopy dbr:Scanning_tunneling_microscopy dbr:Microscopy dbr:Cantilever dbr:Scanning_ion-conductance_microscopy dbr:Magnetic_force_microscope dbr:Magnetic_resonance_force_microscopy dbr:Scanning_Kelvin_probe dbr:Scanning_capacitance_microscopy dbr:Scanning_gate_microscopy dbr:Scanning_probe_lithography dbr:Scanning_tunneling_microscope dbr:Scanning_voltage_microscopy dbr:Scanning_SQUID_microscopy dbr:Gwyddion_(software) dbr:Photothermal_microspectroscopy dbr:Nano-FTIR dbr:Scanning_quantum_dot_microscopy dbr:Non-contact_atomic_force_microscopy dbr:Raman_spectroscopy dbr:Spin_polarized_scanning_tunneling_microscopy dbr:Electrostatic_force_microscopy dbr:Magnetic_force_microscopy dbr:Near-field_scanning_optical_microscopy dbr:Image_Metrology dbr:Ultra_high_vacuum dbr:Force_modulation_microscopy dbr:Photon_scanning_tunneling_microscopy dbr:Scanning_single-electron_transistor_microscopy dbr:Scanning_spreading_resistance_microscopy dbr:Scanning_tunneling_potentiometry dbr:Synchrotron_x-ray_scanning_tunneling_microscopy dbr:TopoStitch |
| dbp:wikiPageUsesTemplate | dbt:SPM2 dbt:Authority_control dbt:Citation_needed dbt:Cite_book dbt:More_citations_needed dbt:Prose dbt:Reflist dbt:Short_description dbt:Wikibooks dbt:Prone_to_spam dbt:Nanotech |
| dcterms:subject | dbc:Scanning_probe_microscopy |
| gold:hypernym | dbr:Branch |
| rdf:type | owl:Thing yago:WikicatMicroscopes yago:Artifact100021939 yago:Device103183080 yago:Instrument103574816 yago:Instrumentality103575240 yago:Magnifier103709206 yago:Microscope103760671 yago:Object100002684 yago:PhysicalEntity100001930 dbo:Organisation dbo:MusicGenre yago:ScientificInstrument104147495 yago:Whole100003553 |
| rdfs:comment | Rastersondenmikroskopie (englisch scanning probe microscopy, SPM) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei welchen das Bild nicht mit einer optischen oder elektronenoptischen Abbildung (Linsen) erzeugt wird wie beim Lichtmikroskop (LM) oder dem Rasterelektronenmikroskop (REM), sondern über die Wechselwirkung einer sogenannten Sonde mit der Probe. Die zu untersuchende Probenoberfläche wird mittels dieser Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Messwerte werden dann zu einem digitalen Bild zusammengesetzt. (de) Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981. Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm). (es) 走査型プローブ顕微鏡 (そうさがたプローブけんびきょう、Scanning Probe Microscope; SPM) は、プローブを用いた顕微鏡観察手法の総称である。先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察する。実際の例としては、表面を観察する際、微少な電流(トンネル電流)を利用する走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力を利用する原子間力顕微鏡(AFM)をはじめ、数多くの種類がある。 (ja) 掃描探針顯微鏡（Scanning probe microscopy，SPM）是所有機械式地用物理在樣本上掃描移動以探測樣本影像的顯微鏡的统称。其影像解析度主要取決於探針的大小〔通常在纳米的範圍〕。掃描隧道顯微鏡是第一個被發明的掃描探針顯微鏡〔1981年〕，这是一种用于在原子水平表面成像的仪器。第一次成功的扫描隧道显微镜实验由Binnig和Rohrer完成。他们成功的关键是使用反馈回路来调节样品和探针之间的间隙距离。 许多扫描探针显微镜可以同时用几种相互作用来成像。使用这些相互作用来获得图像的方式通常被称为模式。 (zh) مسح المجهر التحقيقي يعد المجهر التحقيقي SPM أحد أنواع المجاهر الذي يشكل صور الاسطح باستخدام اداة ماديه تقوم بفحص العينة. ويتم الحصول على صوره سطحيه بتحريك المسبارميكانيكيا بمسحه نقطيه للعينه سطرا بسطروتسجيل تفاعل المسبار سطحيا كوظيفة للموقف. اكتشف المجهر التحقيقي SPM عندما اخترع مجهر المسح النفقي (المجهر الأنبوبي الماسح) في عام 1981.ان العديد من المجاهر التحقيقيه يمكن ان تصور عدة تفاعلات في وقت واحد. يطلق على طريقة التفاعلات التي تحدث عند الحصول على صوره بالصيغة. ان الحل يختلف من تقنية إلى أخرى ولكن بعض تقنيات المسابيرالتحقيقيه تحقق حلول عجيبه بدلا من الذرية انهم مدينون بشكل كبير إلى قدرة هذه المحركات لتنفيذ الاقتراحات الكهروضغطية بتفصيل ودقه على المستوى الذري أو أفضل على القيادة الالكترونية. ومن الممكن وعل ى نحو صحيح استخدام هذه المجموعة من التقنيات (التقنيات الكهروضغطيه. القاسم المشترك ا (ar) Craobh den is ea micreascópacht tóireadóir scanta. Tá raon micreascóp éagsúil ann anois atá bunaithe ar theicníocht ina ndéantar dromchla samplach a iniúchadh le barr tóireadóra a scantar i leith an dromchla sin. Úsáidtear micreascóip scanta in an-chuid feidhmeanna: seiceáil slisní leathsheoltóra is dioscaí optúla le linn a ndéanta, breathnú ar chealla, próitéiní, baictéir is víris in situ. Cheap Binnig, Quate is Gerber an teicníocht micreascópachta seo le tóireadóir scanta i 1986. (ga) La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). (fr) Scanning probe microscopy (SPM) is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. SPM was founded in 1981, with the invention of the scanning tunneling microscope, an instrument for imaging surfaces at the atomic level. The first successful scanning tunneling microscope experiment was done by Gerd Binnig and Heinrich Rohrer. The key to their success was using a feedback loop to regulate gap distance between the sample and the probe. (en) La microscopia a scansione di sonda (SPM, Scanning Probe Microscopy) è un ramo della microscopia che forma le immagini di superfici usando una sonda fisica che esegue la scansione del campione. Un'immagine della superficie è ottenuta meccanicamente spostando la sonda in un (raster scan) del campione, riga per riga e registrando l'interazione sonda-superficie in funzione della posizione. La SPM è stata istituita nel 1981 con l'invenzione del microscopio a scansione a effetto tunnel. (it) Scanning probe microscopy (SPM) is een microscopietechniek, waar met een sonde (Engels: probe) het oppervlak van een substraat op atoomschaal wordt verkend en in gescand. Het is dan ook een veelgebruikte karakteriseringstechniek voor materiaaloppervlakten binnen het vakgebied der materiaalkunde en vastestoffysica. De techniek werd ontwikkeld na de uitvinding van Scanning tunneling microscopy in 1981. SPM heeft een aantal grote voordelen ten opzichte van elektronenmicroscopen: Enkele bekende SPM-technieken zijn: (nl) SPM (ang. Scanning Probe Microscope; mikroskop ze skanującą sondą) – ogólna nazwa całej rodziny mikroskopów, których zasada działania polega na: 1. * skanowaniu, czyli przemiataniu pola widzenia mikroskopu liniami, każda linia jest następnie mierzona punkt po punkcie – obraz tworzony na podstawie tych pojedynczych punktów pomiarowych 2. * wybór punktu pomiarowego następuje poprzez poruszanie nad próbką sondy (próbnika) – zasadniczy pomiar określonej właściwości badanej próbki jest dokonywany za pomocą tej sondy. (pl) Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM — scanning probe microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен (принципы этого класса приборов были заложены ранее другими исследователями) Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике в 1986 году, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной особенностью СЗМ является наличие: (ru) Скануючі зондові мікроскопи (СЗМ, англ. SPM — Scanning Probe Microscope — клас мікроскопів для отримання зображення поверхні та її локальних характеристик. Процес побудови зображення заснований на скануванні поверхні зондом. У загальному випадку дозволяє отримати тривимірне зображення поверхні (топографію) з високої якості. Скануючий зондовий мікроскоп в сучасному вигляді винайдений (принципи цього класу приладів були закладені раніше іншими дослідниками) Гердом Карлом Біннігом і Генріхом Рорером в 1981 році. За цей винахід були удостоєні Нобелівської премії з фізики в 1986 році, яка була розділена між ними і винахідником трансмісійного електронного мікроскопа Е. Руска. Відмінною особливістю СЗМ є наявність: (uk) |
| rdfs:label | Scanning probe microscopy (en) فحص مجهري بالمسبار الماسح (ar) Rastersondenmikroskopie (de) Microscopio de sonda de barrido (es) Micreascópacht tóireadóir scanta (ga) Microscopie à sonde locale (fr) Microscopia a scansione di sonda (it) 走査型プローブ顕微鏡 (ja) SPM (pl) Scanning probe microscopy (nl) Сканирующий зондовый микроскоп (ru) 掃描探針顯微鏡 (zh) Сканувальний зондовий мікроскоп (uk) |
| owl:sameAs | freebase:Scanning probe microscopy http://d-nb.info/gnd/4330328-6 yago-res:Scanning probe microscopy wikidata:Scanning probe microscopy dbpedia-ar:Scanning probe microscopy dbpedia-az:Scanning probe microscopy http://bn.dbpedia.org/resource/অভিবীক্ষণ_শলাকা_অণুবীক্ষণবিজ্ঞান http://bs.dbpedia.org/resource/Mikroskopija_skenirajućom_sondom dbpedia-da:Scanning probe microscopy dbpedia-de:Scanning probe microscopy dbpedia-es:Scanning probe microscopy dbpedia-et:Scanning probe microscopy dbpedia-fa:Scanning probe microscopy dbpedia-fr:Scanning probe microscopy dbpedia-ga:Scanning probe microscopy dbpedia-it:Scanning probe microscopy dbpedia-ja:Scanning probe microscopy http://ml.dbpedia.org/resource/സ്കാനിങ്_പ്രോബ്_സൂക്ഷ്മദർശിനി dbpedia-nl:Scanning probe microscopy dbpedia-pl:Scanning probe microscopy dbpedia-ru:Scanning probe microscopy dbpedia-sr:Scanning probe microscopy dbpedia-uk:Scanning probe microscopy http://ur.dbpedia.org/resource/تفرسی_سراغیہ_خردبینی dbpedia-vi:Scanning probe microscopy dbpedia-zh:Scanning probe microscopy https://global.dbpedia.org/id/5454Z |
| skos:closeMatch | http://www.springernature.com/scigraph/things/subjects/scanning-probe-microscopy |
| prov:wasDerivedFrom | wikipedia-en:Scanning_probe_microscopy?oldid=1100844057&ns=0 |
| foaf:isPrimaryTopicOf | wikipedia-en:Scanning_probe_microscopy |
| is dbo:academicDiscipline of | dbr:Thomas_Thundat dbr:Magalí_Lingenfelder dbr:Bai_Chunli dbr:Park_Jeong_Young dbr:Mark_Welland dbr:Kuk_Young dbr:Kumar_Wickramasinghe dbr:Sergei_V._Kalinin |
| is dbo:genre of | dbr:Gwyddion_(software) |
| is dbo:knownFor of | dbr:Gerd_Binnig dbr:Heinrich_Rohrer |
| is dbo:wikiPageDisambiguates of | dbr:SPM |
| is dbo:wikiPageRedirects of | dbr:Scanning_force_microscope dbr:Scanning_probe_technique dbr:Scanning_probe_microscope dbr:Microscopy,_scanning_probe dbr:Probe_microscopy |
| is dbo:wikiPageWikiLink of | dbr:Quantum_chemistry dbr:Electrochemical_AFM dbr:Electrophysiology dbr:Nanoparticle dbr:Optical_microscope dbr:Scanning_electron_microscope dbr:Turgor_pressure dbr:Probe_tip dbr:Productive_nanosystems dbr:David_Carroll_(physicist) dbr:David_Ginger dbr:Applied_physics dbr:Characterization_(materials_science) dbr:Characterization_of_nanoparticles dbr:Dawn_Bonnell dbr:Index_of_physics_articles_(S) dbr:Infrared_Nanospectroscopy_(AFM-IR) dbr:Instrumental_chemistry dbr:Nanotechnology dbr:List_of_materials_analysis_methods dbr:Measuring_instrument dbr:Analytical_chemistry dbr:Scanning_thermal_microscopy dbr:Georg_C._F._Greve dbr:Gerd_Binnig dbr:Branched_flow dbr:MountainsMap dbr:Namiki_Precision_Jewel_Co dbr:Crystal_engineering dbr:Thomas_Thundat dbr:Anne_Borg_(physicist) dbr:Magalí_Lingenfelder dbr:Piezoelectricity dbr:Scanning_vibrating_electrode_technique dbr:Surface_science dbr:Microelectromechanical_systems dbr:Scanning_electrochemical_microscopy dbr:Thermochemical_nanolithography dbr:Autocorrelation dbr:Bai_Chunli dbr:Ion_pump_(physics) dbr:Julia_Hsu dbr:Julie_Macpherson dbr:Jürgen_P._Rabe dbr:Larry_A._Nagahara dbr:Lipid_raft dbr:Microthermal_analysis dbr:Anatoly_V._Zayats dbr:Feynman_Prize_in_Nanotechnology dbr:Field_electron_emission dbr:Park_Jeong_Young dbr:Carbon_nanocone dbr:Carbon_nanofiber dbr:Digital_Surf dbr:Fluidic_force_microscopy dbr:Harald_Fuchs dbr:Karen_Kavanagh dbr:Kelvin_probe_force_microscope dbr:Residual_gas_analyzer dbr:Heinrich_Rohrer dbr:Hexabenzocoronene dbr:Atomic_de_Broglie_microscope dbr:Atomic_force_acoustic_microscopy dbr:Jenny_Hoffman dbr:Teknekron_Corporation dbr:Counter-scanning dbr:The_Clay_Minerals_Society dbr:Arup_Kumar_Raychaudhuri dbr:Atomic_force_microscopy dbr:Charles_M._Lieber dbr:Highly_oriented_pyrolytic_graphite dbr:Thermal_scanning_probe_lithography dbr:X-ray_optics dbr:Mark_Welland dbr:Scanning_force_microscope dbr:Scanning_probe_technique dbr:Kuk_Young dbr:Kumar_Wickramasinghe dbr:Microscopy dbr:NanoLab_Nijmegen dbr:NanoWorld dbr:Nanosensors_(company) dbr:National_Institute_of_Biomedical_Imaging_and_Bioengineering dbr:Campanile_probe dbr:Sergei_V._Kalinin dbr:Christoph_Gerber dbr:Scanning_ion-conductance_microscopy dbr:Paul_McEuen dbr:SPM dbr:Scanning_capacitance_microscopy dbr:Scanning_gate_microscopy dbr:Scanning_probe_lithography dbr:Scanning_tunneling_microscope dbr:There's_Plenty_of_Room_at_the_Bottom dbr:Scanning_(journal) dbr:Scanning_probe_microscope dbr:Near-field_scanning_optical_microscope dbr:Gwyddion_(software) dbr:IMDEA_Nanoscience_Institute dbr:Polymer_characterization dbr:Zurich_Instruments dbr:Photothermal_microspectroscopy dbr:Yamazaki-Teiichi_Prize dbr:Evangelos_S._Eleftheriou dbr:Nano-FTIR dbr:Nano/Bio_Interface_Center dbr:Nanochemistry dbr:Nanolithography dbr:Nanorobotics dbr:Scanning_helium_microscopy dbr:Scanning_joule_expansion_microscopy dbr:Scanning_microscopy dbr:Scanning_near-field_ultrasound_holography dbr:Scanning_quantum_dot_microscopy dbr:Nanobatteries dbr:Molecular_Foundry dbr:Molecular_nanotechnology dbr:Multiscale_Green's_function dbr:Resilin dbr:Nanoart dbr:Photoconductive_atomic_force_microscopy dbr:Single-layer_materials dbr:Single-molecule_experiment dbr:Non-contact_atomic_force_microscopy dbr:SSRM dbr:Spin_polarized_scanning_tunneling_microscopy dbr:Vibrational_analysis_with_scanning_probe_microscopy dbr:Microscopy,_scanning_probe dbr:Probe_microscopy |
| is dbp:field of | dbr:Thomas_Thundat |
| is dbp:fields of | dbr:Magalí_Lingenfelder dbr:Park_Jeong_Young dbr:Kumar_Wickramasinghe |
| is dbp:knownFor of | dbr:Gerd_Binnig dbr:Heinrich_Rohrer |
| is foaf:primaryTopic of | wikipedia-en:Scanning_probe_microscopy |