Толщин — Метка (original) (raw)

Патенты с меткой «толщин»

Способ получения путем отливки изделий со стенками разных толщин

Загрузка...

Номер патента: 61538

Опубликовано: 01.01.1942

Автор: Брахман

МПК: B22C 1/00, B22C 3/00, B22D 27/18 ...

Метки: отливки, путем, разных, стенками, толщин

...повышающими заполпяемость формы являются: кварц, кварцевый припыл, кварцевые покраски, мап езит, тальк, каолин, припылы пз них и пок)аски, 2 так)ке сазка или Опр 1 скивание сульфитным щелоком. Г 220 б 01)от, нс смачиВаемыми расплавленн 1 э 1 м чуГуном и Одновре 1 енно спи)ка;сщимп запо Няемость сделанных из пих форм оказались: уголь, Гра 1)ит, масла (1 инеральн 11 е, растительные и животные) В лОбом виде (присадка, припыл, протирка, покраска).Поэтому в случае сложной отливки, в которой имеются как тонкие, так и толстые сечения, форма должна быть выполнена по-разпому, а именно: в тонких местах, т. е. В условиях тонкостенного литья (где все внимание должно быть ооращено на заполняемость узких каналов формы), облицовочная земля или...

Обмазка электродов дуговой сварки стали малых толщин

Загрузка...

Номер патента: 66132

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Соколов

МПК: B23K 35/365

Метки: дуговой, малых, обмазка, сварки, стали, толщин, электродов

...с водой и жидкимстеклом и снова протирается через сито.Во избежание эксцентричности покрытия, проволока должна быть тщательно вьпправлена. При отсутствии спецлального правильного станка можно рекомендовать следующий способ правки, Кусок проволоки длиной 7 - 10 м 1 прикрепляют; одним концом к какой-дтибо опоре и к нему подключают один полюс сварочной машины; другой конец проволоки, присоединенный ко второму полюсу фнаприюер, ври помощи, электрододержателя), вытягивают вручную (плоскогубцами) при пропускании через лроволоку тоха и нагреве ее до температуры порядка 400, После выпрямления проволоки ток отключают (и проволоку режут,на стержни длиной около 300 ммк Образования окалины при таком 1 нагреве пжти совершенно не...

Раствор для определения толщин медных покрытий объемно струйным методом

Загрузка...

Номер патента: 81699

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Озерян

МПК: C23F 1/02

Метки: медных, методом, объемно, покрытий, раствор, струйным, толщин

...измерений толщины медих покрытий является об 1 емноструйный,Он заключается в том, что раствор, находящийся В бн)ретке, 5)ытекаятОнкой струйкой со скоростью 201 с)1 з/м иа закенленнуеО в Он)еделее 1 по)еио:Еожеииц испытуемую деталь, расторяет медь в точке Еадення струйки до обнажения основного металла, либо нодслоя.Применяемьш в настоящее время производстве раствор для огЕределения толщпн медных покрытий имеет сложиьц 1 состав и требует дляприготовления дорогих и дефицит 11 х реактивов, как. наример, химически чистой хлорЕтстой сурьмы, ле;иной уксусной кислоты и др.Оиисе 1 ваемь 1 й раствор устран 5 ет указенные ие.достатки и явл 51 етсяболее Еросгым и дсшеым. От нзсотного он отличается тем, что содержит 80 г/л двухромо 0 исл 01 ТЕ...

Способ определения толщин многослойных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 102941

Опубликовано: 01.01.1956

Авторы: Борзов, Ильина

МПК: G01B 11/06, G01J 3/36

Метки: многослойных, покрытий, толщин

...слоя производится при помощи постоянных градуировочмях ирнвьгк, которые строятся заранее по специально изготовленным дли этого эталоном (по 34 эталона для наиддого слоя, путем измерения времени,прогсиагощего от момента зазниганггя ра 2 ряда до того згомента, когда наступает равенство интенсивностей рассматриваемой пары линггй. При этом равенство интенсивностей может устанавливаться при иомонги мхшрофотоьтетра.Последовательное возбуждение спектра слоев покрытия производится дшпиЫм или исгоровьгтг разридом небольшой мощности(сила тона до 1,5 а). Порча поверхности образца при опредолеигги нс 31 аЧ:тгслтннадиаметр поражаемого участка соечаилъгет 23 мм.Определение толпгииы крогогцих слоев но иредггонаснноагу способу глоэчгио удобно сочет...

Устройство для автоматического измерения малых толщин пленок

Загрузка...

Номер патента: 104007

Опубликовано: 01.01.1956

Автор: Карасев

МПК: G01B 11/06, G02B 27/28

Метки: малых, пленок, толщин

...переменная составляющая фототока будет скомпенсирована.На вторую обмотку логометра подается ток, питающий синхронный электродвигатель, который вращает второй поляризатор, В результате, отраженный от пленки свет, пройдя через пластинку 10 четверть волны, плоско поляризуется, причем азимут поляризации зависит от толщины пленки.Плоско поляризованный свет, пройдя третий вращающийся поляризатор 11 и второй деполяризатор 12, поступает на второй фотоэлектронный умножитель 1 З. Одновременно на третий фотоэлектронный умножитель 14 поступает свет, не отраженный от пленки и прошедший через третий поляризатор, второй деполяризатор и четвертый поляризатор 15, установленный так, чтобы переменные составляющие фототоков в обоих фотоумножителях были бы...

Устройство для измерения толщин изделий

Загрузка...

Номер патента: 114738

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Голодаев, Ланге, Пророков

МПК: G01B 17/02

Метки: толщин

...переменные емкости которых соединены в один блок (рси конденсаторов кон;гуров механически связаны между собой) и при перестройке контуров остаются равными друг другу. Каждый из этих контуров связан с контуром генератора 2 качающейся частоты дефектоскопа. Частота этого генератора определяется пьезопреобразователем 3 толщемера. При совпадении частоты генератора 2 с частотой контура 1 на экране прибора появляется пик, аналогичный пику от стоячей волны в изделии. Имея несколько измерительных контуров, добиваются равенства их ча стот определенным гармоникам изделия, причем в этом случае прямой отсчет измеряемых толщин производится однозначно по шкале блока переменных конденсаторов в момент совмещения аЛ 114738 елам изобретений и открытий прп...

Прибор для замера толщин внутренних полостей литейных форм

Загрузка...

Номер патента: 124074

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Винюков

МПК: G01B 5/02

Метки: внутренних, замера, литейных, полостей, прибор, толщин, форм

...погруксцця црцб 01)е форму во время замера.ПРИ НЯЖЯТИЦ НЯ ПРИВОДНУЮ КЦОПК, 1 ЗУбисТЬй СТСРЕСЦ, д ПРИВОТ во вращение приводной блок б, ца который наматывается приводной трос 7. Вместе с приводным тросом пос Г пателы 0 движутся пр жица-ограцц- ЧИтЕЛЬ 8 И СОЕдИНИтЕЛьцая СКОба 9. ПОСЛС ТОГО, КаК СОСдцццтСГЬцс 75 СКО- ба пройдет зону свободного хода, начинает перемещаться зуочатая рсй; 10, а также соединенная с ней через зубч;тую передачу сгрелка шкалы ОтесСТЗ 11. ТроСИК с) НЗТяКЕНИЯ, дВИГяяСЬ, рдТ 5)ГПВЗСГ ВОЗВрацук) пружину 12. При этом из коробки 13 выдвигаются г:адкцс стЕГьныс п,7 аст- ны 14, которые соединены через шарниры 1 з со стойками 16 ц с тросиком пятякеци 5 ь Стальные пластины 14, продвцГзясь, цятялкцвяютс 5 На стенки формы и...

Микрополяриметр для определения малых толщин пленок

Загрузка...

Номер патента: 125060

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Воропаева, Гаврилов, Дерягин, Зорин

МПК: G01B 9/10, G01J 4/00, G01N 21/21 ...

Метки: малых, микрополяриметр, пленок, толщин

...фиг. 2 и 3 - его конструкция.Для однозначного и быстрого измерения толщин пленок, превышающих длину волны света, пленку следует освещать лампочкой накаливания или вольтовой дугой и рассматривать отраженный свет через спектроскоп прямого зрения (при освещении параллельными лучами) или с помощью спектрального окуляра. В обоих случаях в спектре отраженного света будут видны темные полосы интерференции, по числу, поло125060жению и контрастности которых определяют толщину пленки, что достигается также комбинацией поляризационного микроскопа со спектральным окуляром,Микроскоп 1 имеет пластинку четверть волны и анализатор-поляроид с лимбом для отсчета углов поворота анализатора, расположенные перед объективом микроскопа. За окуляром...

Способ измерения толщин, например, пленок

Загрузка...

Номер патента: 149230

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Денисов

МПК: G01B 15/02, G01D 5/50

Метки: например, пленок, толщин

...исходного вещества, т. е. с его толщиной при неизменных остальных пар а метр ах.Образец-пленка, толщину которой необходимо измерить, и контрольный эталон известной толщины, изготовленный из того же материала, одновременно в одних и тех же геометрических условиях облучаются в пучке активирующего излучения (протоны, нейтроны,;-кванты). Толщина пленки определяется по отношению образовавшихся в результате облучения активностей в образце-пленке и контрольном ее эталоне.После облучения активности образца и эталона пленки измеряются на одинаковых установках.В случае использования для активизации пл большои энергии необходимо учитывать эффект выбива ированных ядер отдачи из образца и эталона пленки.Для этого образец и эталон пленки...

Способ определения парциальных толщин многокомпонентных пленок

Загрузка...

Номер патента: 194198

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Малахов, Техня

МПК: G01T 1/08, G21H 5/00

Метки: многокомпонентных, парциальных, пленок, толщин

...Предмет и зоб ния Изобретение отн Я ядерной структуры я вещества и измереншего излучения.Известны способы измерения парциальных толщин однокомпонентных пленок, согласно которым пленку облучают заряженными частицами и по измеренному выходу резерфордовского рассеяния от ядер пленки определяют парциальную толщину пленки.Если же сечения упругого рассеяния заряженных частиц на ядрах элементов пленки известны, то парциальные толщины определяют по площадям пиков в спектре этих частиц.Описываемый способ состоит в том, что исследуемые пленки берут в количестве, равном количеству компонентов пленки, измеряют выход резерфордовского рассеяния частиц на ядрах компонентов, измеряют площади пиков в спектре упругого рассеяния заряженных частиц на...

Способ измерения толщин тонких пленок в процессе их изготовления

Загрузка...

Номер патента: 205312

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G01B 11/06, G02B 27/60

Метки: пленок, процессе, толщин, тонких

...образцом на пути напыляемого вещества устанавливают диафрагму 5, расположенную таким образом, что она экранирует часть образца, вследствие чего 30 пленка б образует на подложке ступеньку, вЫ- сота которой точно равна толщине пленки.Для измерения высоты ступеньки на эталонный образец проектируют объективом 7 изображение 8 растра 9, подсвечиваемого источником 10 с помощью конденсора 11. Оптическая ось проектирующсй системы расположена под углом 45" и больше к подложке. Поэтому, ч 1 обы изображение имело вид растра с постоянным шагом, необходимо растр устанавливать под углом к оптической оси, при этом шаг его должен меняться.После отражения от образца изображение растра проектируется объективом 12 в плос. кость, где установлен такой...

Устройство для контактной сварки деталей малых толщин

Загрузка...

Номер патента: 241565

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Непр, Семергеев, Шинкаренко

МПК: B23K 11/10, B23K 11/31, B23K 37/02 ...

Метки: контактной, малых, сварки, толщин

...в конусообразный токоподводящий хвостовик б, запрессованный в отверстие вилки 7, Ось 2 своими цапфами на шарикоподшипниках 8 установлена в рамке 9. Рамка с помощью запрессованных в нее цапф 10 установлена на шарикоподшипниках 11 в вилке. Конусообразный хвостовик б вставляется в токсподводящий кронштейн (консоль) сварочной машины.При выполнении конструкции устройствадля контактной сварки малых толщин (прималых усилиях сжатия) должны быть соблюдены следующие требования: пересекающиесяоси поворота (осп двойного шарнира) электрода и контактная плоскость электрода-вставки10 должны совпадать; шарикоподшипники плндругие легкоповорачиваемые опоры должныбыть равноудалены от осп электрода-вставки,Работа с помощью предложенного устройства...

Емкостный датчик толщинь гололеда

Загрузка...

Номер патента: 301666

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Пенчев, Солдатов

МПК: G01W 1/14

Метки: гололеда, датчик, емкостный, толщин

...от толщины отложения в широком интервале толщин измеряемо го гололеда.Это достигается тем, что чувствительныйэлемент обладает как участками с малым расстоянием между пластинами и малой площадью последних, на которых краевое поле 10 конденсатора имеет небольшую глубину проникновения, так и участками с сильно разнесенными широкими электродами, на которых поле проникает на значительную глубину,При небольших толщинах гололеда работа 1 ст участки с малым расстоянием между электродами, а остальные существенной роли не играют. По мере увеличения толщины гололеда включаются новые участки, сохраняя при этом линейность характеристики.20 Блок-схема для получения линейного сигнала при отложении гололеда на поверхности представлена на фиг. 3 и...

Способ определения парциальных толщин многокомпонентных пленок

Загрузка...

Номер патента: 308395

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Малахов

МПК: G01T 1/36

Метки: многокомпонентных, парциальных, пленок, толщин

...е. отделенных от подложки, пленок, поскольку при наличии толстой подложки возникает необходимость измерять площадь непрерывного спектра от ядер подложки вплоть до малых энергий в условиях, когда часть рассеянных на большой глубине частиц затормозится и не выйдет наружу. Следовательно, эта часть рассеянных частиц вообще не может быть зарегистрирована, Введение же необходимой поправки сильно снижает точность определения парциальных толщин.Цель изобретения - упрощение и повышение точности измерений как свободных пленок, так и пленок, рассеянных на толстые подложки. Это достигается тем, что измеряют ширинупика, соответствующего какой-либо компоненте, и сдвиги пиков от ядер подложки или какого-либо слоя и по результатам измерений определяют...

Способ контроля оптических толщин

Загрузка...

Номер патента: 420871

Опубликовано: 25.03.1974

Авторы: Баратов, Горбань, Коваленко, Ордена, Черный

МПК: G01B 11/06

Метки: оптических, толщин

...поток, падающий нормально на подложку 2 (например, стеклянную пластинку) с напыляемым оптическим покрытием 3 (например, МдГ 2). Между источником света 1 и подложкой 2 размен 1 ают два полупрозрачных зеркала 4 н 5 и оптический аттенюатор 6. Ослабление светового потока, проходящего через аттенюатор 6, определяется величиной управляющего воздействия Г. Световой поток нсточцика 1, отраженный от зеркала 4, является опорным световым потоком Ф,. Световой поток Фотр отраженный подложкой 2, оптическим покры гнем 3 н зеркалом 5, является стабилизированным световым потоком. Управляющее воздействие Р оптического аттенюатора 6 является функцией величины разности Фотр - Фоп В исходном состоянии покрытие 3 не напы лецо, отражение от подложки 2...

Способ сварки больших толщин в узкую разделку

Загрузка...

Номер патента: 473576

Опубликовано: 15.06.1975

Авторы: Гума, Гусаков, Кузнецов, Рощин, Фролов

МПК: B23K 9/00

Метки: больших, разделку, сварки, толщин, узкую

...Ведениесварки в направлении положительной кривиз 15 ны центрального узла траектории на подъемпозволяет улучшить формирование шва,Неподвижное расположение газового соплапо отношению к электроду улучшает газовуюзащиту металла сварочной ванны прц тех же20 расходах защитного газа,На фцг. 1 приведена схема устройства, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 -траектория возвратно-поступательного движения электрода по дуге,25 Устройство содержит электрод 1, токоподводящий мундштук 2, сопло 3, жесткое за.крепление 4 сопла (корпуса горелки), подвод5 защитного газа и свариваемые кромки 6, 7,р - угол встречи электрода с кромками сты 30 ка, а - угол наклона электрода относительнооси вращения, а - центральный угол дуги движения конца электрода, А...

Способ контроля толщин двухслойных диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 491824

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Буйко, Калошкин, Колешко, Лашицкий

МПК: G01B 11/06

Метки: двухслойных, диэлектрических, пленок, толщин

...к исследуемому образцу как под углом Брюстера, так и нормально к поверхности. По измеренному регистриру ю щим устройством значению коэффициента отражения р-компоненты при падении света под углом Брюстера к верхней поверхности можно рассчитать толщину нижнего слоя двухслойной диэлектрической структуры, Из теорети ческой оценки следует, что коэффициент отра491824 р - 1 Фг) фиг, 1 жения от двухслойной структуры, выращеннойна отражающей подложке, равен Г 24 кГ -1 г -1- 2 Гр )г) сои д,У(1)1+ Г 1 г 1 + 2 Г,р 1 г 1 р соз- и, а - ," где Гр - амплитудный коэффициент отражения р-компоненты от границы раздела воздУх - веРхний слой; 1 г 1 р - сУммаРный амплитудный коэффициент отражения р-компоненты от остальной структуры; Х - длина волны...

Способ контроля толщин слоев при изготовлении оптического покрытия на детали

Загрузка...

Номер патента: 526768

Опубликовано: 30.08.1976

Авторы: Кацнельсон, Фурман

МПК: G01B 11/06

Метки: детали, изготовлении, оптического, покрытия, слоев, толщин

...производят при напылении слоя на уже готовую систему слоев.Непосредственно на деталь наносят первый простой диэлектрический пропускающий интерференционный фильтр к-го порядка, состоящий из двух одинаковых многослойных зеркал, разделенных слоем диэлектрика. Зеркала представляют собой двухкомпонентные системы из чередующихся непоглощающих слоев диэлектриков с высоким и низким показателями преломления, оптические толщины которых равны между собой. Оптическая толщина разделительного слоя в 2 к раз больше оптической толщины слоев зеркал.О том, что оптическая толщина достигла требуемой величины, делают заключение, регистрируя минимумы светопропускания для слоев с высоким показателем преломления и максимумы - для слоев с низким показателем...

Устройство для контроля толщин пленок в процессе нанесения оптического покрытия испарением в вакууме

Загрузка...

Номер патента: 555278

Опубликовано: 25.04.1977

Авторы: Александров, Голованова, Кацнельсон

МПК: G01B 11/06

Метки: вакууме, испарением, нанесения, оптического, пленок, покрытия, процессе, толщин

...ПЛОСКОСТЬ Г;ЦВНОГО СЕг 1 ЕНИЯРЕШСтКН; ПЕРПЕНДИКУЛЯРНЯЯ К СЕ 1 г 1 т 12 нкам, ОРИЕ 1 П 1.рована под углом 40 50 к падающему световомуПуЧКу ЛуЧЕй, ВХОдНОй ЛЮК ОГрапнг 1 ЕН КраяМИ Иэаб.раженвятела какалаисточника света, а вь 1 ходнойЛЮК ВЬгПОЛНЕН В ВИДЕ ДнафРаГМЫ СРаЗМЕРамн, НЕПрЕВЫШаЮщИМИ ВЕЛНгл 1 НЬ 1 уКаза ЕНОГО ИЗОбражЕНИяв мопохроматическом свете,На чертеже дана схема предлагаемого устройства.Оло содержит источник света 1 (источниксплошного спектра), формирующую оптику,СОСЬящу 1 О из объективов 2,3 и 4, вакуумноплотных фотометрических окон 5 и 6 и фильтра 7, Входе луча внутри формирующей оптики установпе.на диффакционная решетка 8. Плоскость главногосечения решетки, перпендикулярная к ее штрихам,на которых происходит дифракция,...

Способ электродуговой сварки деталей различных толщин

Загрузка...

Номер патента: 636061

Опубликовано: 05.12.1978

Авторы: Аксютин, Миренков, Чепур

МПК: B23K 9/16

Метки: различных, сварки, толщин, электродуговой

...дляподготовки всей поверхности сваривае- З 1мых кромок у всех слоев сильфона, чтосоздает предпосылки для образованиядефектов в сварном шве, Надежностьсварных швов приварки многослойныхсильфонов по условиям герметичностисоответствует однослойным сильфонам,.так как все слои привариваютея однимшвом,а если учесть отсутствие условийдля подготовки кромок слоев сильфонапод сварку,то надежность еще меньше. Целью изобретения являюется повышение надежности и качества узлов путемобеспечения герметичности.Поставленная цель достигается тем,что слои сильфона на концевой частирассоединяют на два набора, один наборсодержит один слой, а другой - оставшееся количество слоев, при этом наарматуре выполняют второй буртик, противоположный первому и...

Измеритель толщин гальванических покрытий в процессе производства

Загрузка...

Номер патента: 653309

Опубликовано: 25.03.1979

Авторы: Галан, Костюк, Краснопрошина

МПК: C25D 21/12

Метки: гальванических, измеритель, покрытий, производства, процессе, толщин

...толщин непокрытых электрода-свидетеля и эталона, ком пенси руют.Затем в эталонный преобразователь. вместо непокрытого эталона помешают эталон, покрытый до заданной толщины для данной партии деталей, и включают гальванический процесс. На входе сравнивающего устройства 6 появляется сигнал рассогласования (1, соответствующий разности сигналов преобразователей 4, 5 11 и Бг (см. фиг. 2),1 Ъ = Ц - (.1.Эта разность уменьшается по мере увеличения покрытия на электроде-свидетеле, При достижении заданной толщины на элект При загрузке новой партии деталей в гальваническую ванну в промежуток времени от 1 до ( сразу же включают гальванический процесс, не производя, в отличие от прототипа, смены электрода-свидетеля, настройки устройства, т.е....

Устройство для измерения толщин гальванических покрытий в процессе осаждения

Загрузка...

Номер патента: 662627

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Ермолаев, Лернер

МПК: C25D 21/12

Метки: гальванических, осаждения, покрытий, процессе, толщин

...а вторые входы соединеныс выходами соответственно источниковЮ 15,16,17 опорного напряжения блока 12:Выходы сравниваюшйх устройств 18 и19 объединены и подключены к входусхемы 13 сигнализации выхода катодной плотности тока из заданных пределов, а выход сравниваюшего устройства20 соединен с управляюшим входом ключа 14, включенного в катодную цепьдетали-свидетеля 1,В случае равенства заданного технологическим режимом верхнего пределаи максимапьно допустимой технологическим режимом величины катодной плотно.1стн тока блоки 11 и 12 могут бытьвыполнены по более простой схеме(фиг.2). Блок 11 в этом случае содержит два сравнивающих устройства 18 и19, первые входы которых соединены свыходом узла 7, а вторые - подключенысоответственно к выходам...

Газокислородный резак внешнего смешения газов для резки металлов больших толщин

Загрузка...

Номер патента: 748088

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Ларин, Литвинов, Мушенко, Удод, Шевчук

МПК: F23D 13/32

Метки: больших, внешнего, газов, газокислородный, металлов, резак, резки, смешения, толщин

...атмосферы торец мундштука длярежущего кислорода размещен ниже торцадополнительного мундштука для защитыповерхности на расстоянии, равном 4 - 8внутренних диаметров мундштука для режущего кислорода,На фиг. 1 показан резак с частичнымивырезами, общий вид; на фиг. 2 - поперечный разрез горелки А - А.Резак содержит корпус 1 с газоподводящими каналами 2 и 3, режущий мундштук4, мундштук 5 для защиты поверхностимундштука 6 для подогрева металла по ширине реза перед резкой,Мундштуки 5 и 6 расположены раздельно на одной прямой с режущим мундштуком 4. При этом, торцовые поверхности мундштуков 5 и 6 выполнены на разных уровняхотносительно торца режущего мундштука 4,Мундштук 5, обеспечивающйй подачузащитного газа в полость реза под определенным...

Устройство для электрохимической обработки длинномерных изделий микронных толщин

Загрузка...

Номер патента: 781002

Опубликовано: 23.11.1980

Авторы: Гимадеева, Карязин, Сироткин, Штанько

МПК: B23P 1/04

Метки: длинномерных, микронных, толщин, электрохимической

...заправку обрабатываемогоизделия "всухую", т.е. без соприкосновения. с рабочим электролитом, что==улучшает-санитарно-гигиеническиеусловия труда,Диафрагмы-пронодки изготовляютиз диэлектрического материала, обладающего антифрикционными и гидрофобными свойствами, например из фто ропласта.В каждой ячейке между диафрагма"ми-проводками помещены электродыб и 7, которые расположены коакси.ально длинномерному изделию 8 иимеют в верхней части разрез для пропускания изделйя при заправке в ванйу, Ванна йачинается и заканчиваетсяаноднымиячейкамй при постоянномчередовании с катодными по всей длине. Колйчество"ячеекиих"размеры йодбираютоя в "завйсомости -от процесса,размерон и свойств обрабатынаемых изделий и применяемых электролитов....

Способ электрошлаковой сварки изделий больших толщин

Загрузка...

Номер патента: 878471

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Ерегин, Малай, Савченко

МПК: B23K 25/00

Метки: больших, сварки, толщин, электрошлаковой

...формирующие ползуны 6, наводят шлаковую ванну требуемой глубины, и,используя сухой вылет электродной проволоки 1, ведут электрошлаковый процесссварки.Предложенный способ позволяет устанавливать и подавать электродные проволокии вне зоны зазора между свариваемыми заготовками, например, в пространство, образованное выемкой в формующем ползуне 6,предназначенной для усиления шва. В этомслучае значительно сокращается расходэлектродной проволоки за счет уменьшениязазора 4 между свариваемыми заготовками.Подача проволоки в одно место позволяет упростить аппаратуру ее подачи, обеспечивает возможность осуществлять и регулировать ее сухой вылет. Все это позволяетповысить скорость сварки с сохранениемкачества сварного соединения,По...

Установка для электрошлаковой сварки металлов больших толщин

Загрузка...

Номер патента: 891288

Опубликовано: 23.12.1981

Авторы: Бельфор, Бурдюшков, Горюнов, Лычко, Скаляпов, Сущук-Слюсаренко

МПК: B23K 25/00

Метки: больших, металлов, сварки, толщин, электрошлаковой

...перемещения параллельно горизонталь" ной оси шва свариваемого изделия. Вертикальное перемещение траверсы 9 по направляющим 10 на передних вертикальных колоннах 11 портала осуществляется с помощью двух ходовых винтов 12 от одного привода 13.Траверса 9 снабжена направляющими 14, на которых установлены самоходные устройства 8, Самоходные устройства 8 снабжены ходовыми колесами 15, приводом и дополнительными роликами (не показаны) способствующими нормальному перемещению по направляющим траверсы при настройке и устойчивости во время сварки. Самоходные устройства снабжены ручным винтовым .стопором (не показан), фиксирующие их положение над местом сварки.Сварочный процесс происходит при неподвижных траверсе и сварочных аппаратах. Для удобства...

Способ определения толщин мертвого слоя спектрометрического детектора ионов

Загрузка...

Номер патента: 935845

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Темный, Усиков

МПК: G01T 1/24

Метки: детектора, ионов, мертвого, слоя, спектрометрического, толщин

...конкретного иона, например ионов гелия (двух- зарядных, т.е. ОЬ-частиц) и сравнения этих амппитуд при нормальном и наклонном падении этих ионов не лицевую поверхность ППД 1 2 1.Этот способ позволяет измерять толщины а пределах 1-0,0 мкм с точ- Зф , ностью 7-14%, однако позволяет при его доступности определить толщину мертвого слоя только для с(,-частиц.Цель изобретения - расширение диапазона определяемых толщин мертво" го слоя в сторону их меньший значений (измерения толщины производят для множества конкретных ионов в.энергетических единицах).4Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определе" ния толщин мертвого слоя спектрометрического детектора ионов в энергетических единицах путем измерения амплитуд сигналов...

Способ выработки эластичных кож повышенных толщин для бесподкладочной обуви

Загрузка...

Номер патента: 1000467

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Акимова, Конова, Лурье, Микаэлян, Могилевский, Пуринг, Файнштейн, Финкель

МПК: C14C 13/00

Метки: бесподкладочной, выработки, кож, обуви, повышенных, толщин, эластичных

...промывают и обеэжиривают, после крашения их обрабатывают раствором уксусной кислоты в количестве 0,5-0,7 от массы строганых кож при 6 О жидкостном коэФФициенте 3,03,2 и 55-60 С в течение 20-30 мин. Жирование производят при расходе жира8-12 от массы строганых кож (считая на 100-ный жир), а в процессе 65 отделки после прессования нарезнойплитой на кожи наносят 2-3-ныйводный раствор высококонцентрированного металлокомплексного красителя (краситель типа "1 гдайегщ"),который затем закрепляют составом,содержащим 1,0-1,5 этого красителя,П р и м е р 1 . Кожи, полученныепо типовой методике иэ яловки тяжелой, после строгания промывают приЖК=З и 45 С в течение 30 мин и обезжиривают сопалом в количестве 1,0от массы строганых кож при ЖК=1,0...

Способ измерения магнитострикции образцов микронных толщин

Загрузка...

Номер патента: 1022087

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Венков, Есиков, Петровых

МПК: G01R 33/16

Метки: магнитострикции, микронных, образцов, толщин

...участка до другого, а намагничивание исследуемого участка до насыщения производят во время распространения по нему механического напряжения.На фиг 1 изображена структурнаясхема устройства для реализации пред" лагаемого способа; на Фиг, 2 - зави- .симость намагниченности и магнитострикции материалов с положительноймагнитострикцией от напряженностимагнитного поля при различных величинах приложенного к образцу механического напряжения.Исследуемый образец 1 соединен через согласующий акустический концентратор 2 с сердечником 3 магнитоупругого датчика. Образец 1 расположен внутри поляризующей 4 и намагничивающей 5 обмоток, которые размещены соосно и симметрично один к другому. Поляризующая обмотка 4 подключена к генератору 6...

Способ выработки кож повышенных толщин для бесподкладочной обуви

Загрузка...

Номер патента: 1044633

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Ашратова, Балберова, Виницкий, Горбатов, Григорьян, Левенко, Макарова, Мелихов, Микаэлян, Могилевский, Саитгалеев, Тамонов

МПК: C14C 13/00

Метки: бесподкладочной, выработки, кож, обуви, повышенных, толщин

...которых не обладает достаточной формоустойчивостью в связи с более высокими удлинениями.Предлагаемый расход органических дубителей 10-204 вместо 3-5(по известному способу ) считая на дубящие обеспечивает получение кожи с небольшими удлинениями, необходимыми для изготовления формоустойчивой обуви (18" 20 вместо до 353 по известному способу ). Снижение расхода дубителей ниже 10 при выработке кож повышенных толщин приводит лишь к поверхностной обработке кож беэ сквозногопрокраса. Внутренний слой хромирован1.04 1 О 3ного голья остается непродубленныморгайицескими дубителями, что в условиях относительно низкого содержания в голье дубящих соединений хрома приводит к жесткости кожи, Увеличение расхода органических дубителей выше 20 от массы...