Scanning electron microscope (original) (raw)
Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop (anglicky scanning electron microscope, SEM), je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná.
| Property | Value |
|---|---|
| dbo:abstract | Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop (anglicky scanning electron microscope, SEM), je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná. (cs) El microscopi electrònic de rastreig o MER (també anomenat d'escombratge o scanning i SEM de Scanning Electron Microscope en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona una imatge de la mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interaccionen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla que hi ha al costat. (ca) المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من الإلكترونات. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عال، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الإلكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدًا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الإلكتروني الماسح الأكثر شيوعًا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث باستخدام كاشف خاص، يتم إنشاء صورة عرض تضاريس السطح. في الأجهزة التناظرية، يتم مسح شعاع الإلكترونات عبر العينة في المسح النقطي بواسطة لفائف المسح الضوئي. ويشبه نمط المسح النقطي الناتج عن ذلك النمط المستعمل في أنبوب أشعة الكاثود لنظام التلفزيون بحيث تقوم الإلكترونات بالتالي: 1. تجتاح السطح خطيا في الاتجاه السيني. 2. تعود إلى نقطة البداية. 3. تتجه في اتجاه محور الصادات بواسطة أداة قياسية. (ar) Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) είναι ένα από τα όργανα της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας, με το οποίο μπορούμε να εξετάζουμε την επιφάνεια αντικειμένων με την χρήση ηλεκτρονικής δέσμης. Σε αντιστοιχία με τα μικροσκόπια που χρησιμοποιούν φως και κοινούς φακούς για την δημιουργία ειδώλου ενός αντικειμένου, στο ΗΜΣ χρησιμοποιούνται ηλεκτρόνια και ηλεκτρομαγνητικοί φακοί για την δημιουργία ειδώλου της επιφανείας ενός αντικειμένου στην οθόνη ηλεκτρονικού υπολογιστή ή μιας τηλεόρασης. Για τη λειτουργία αυτού του οργάνου είναι απαραίτητη συνθήκη να δημιουργείται ικανοποιητικό "κενό" με διαρκή άντληση του αέρα μετά την εισαγωγή του προς εξέταση αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο. (el) Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt werden. Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Eine rasternde Abbildung lässt sich auch in Transmission durchführen (engl. scanning transmission electron microscopy, STEM), hierfür sind entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope nötig. (de) El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Apoyándose en los trabajos de Max Knoll de los años 1930 fue Manfred von Ardenne quien logró inventar el MEB en 1937 que consistía en un haz de electrones que barría la superficie de la muestra a analizar, que, en respuesta, reemitía algunas partículas. Estas partículas son analizadas por los diferentes sensores que hacen que sea posible la reconstrucción de una imagen tridimensional de la superficie. Los trabajos realizados en la década de 1960 en el laboratorio de , en la Universidad de Cambridge, contribuyeron en gran medida al desarrollo del MEB, y dieron lugar en 1965 a la comercialización, por parte de , de los primeros microscopios de barrido. Hoy en día, la microscopía electrónica de barrido se utiliza en campos que van desde la biología a la ciencia de los materiales, pasando por la arqueología, y muchos fabricantes ofrecen aparatos de serie equipados con detectores de electrones secundarios y cuya resolución se sitúa entre 0,4 y 20 nanómetros. Los MEB poseen una gran profundidad de campo, que permite enfocar a la vez gran parte de la muestra. También producen imágenes de alta resolución, de forma que las características más ínfimas de la muestra pueden ser examinadas con gran amplificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil, ya que la mayoría de los MEB solo requieren que estas sean conductoras. La muestra generalmente se recubre con una capa de carbono o una capa delgada de un metal, como el oro, para darle carácter conductor. Posteriormente, se barre la superficie con electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector formado por lentes basadas en electroimanes, mide la cantidad e intensidad de los electrones que devuelve la muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones mediante imagen digital. (es) Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin (LMS) ann ná cineál ar féidir leis amharc-íomhánna a táirgeadh tré scanachán a dhéanamh ar dhromchla an tsampla le léas ardfhuinnimh leictreon i bpatrún scanta rastair. Idirghníomhaíonn na leictreoin leis na hadaimh sa tsampla agus táirgítear comharthaí a thugann faisnéis maidir le topagrafaíocht dhromchla an tsampla, comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós . (ga) Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscope; SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang mencitrakan permukaan sampel oleh pemindaian dengan pancaran tinggi elektron. Elektron yang berinteraksi dengan atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang sampel dari permukaan topografi, komposisi dan sifat lainnya seperti daya konduksi listrik. Berdasarkan karya dan pada tahun 1930-an, SEM terdiri dari seberkas elektron yang memindai permukaan sampel yang akan dianalisis dimana, sebagai tanggapan, kembali memancarkan partikel tertentu. Partikel ini dianalisis oleh detektor yang berbeda yang memungkinkan untuk merekonstruksi gambar tiga dimensi dari permukaan. Saat ini, pemindaian mikroskop elektron digunakan di berbagai bidang mulai dari biologi hingga teknik material, dan banyak produsen menawarkan serangkaian perangkat dengan detektor elektron sekunder dan resolusi yang berkisar antara 0.4 nanometer hingga 20 nanometer. (in) A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that contain information about the surface topography and composition of the sample. The electron beam is scanned in a raster scan pattern, and the position of the beam is combined with the intensity of the detected signal to produce an image. In the most common SEM mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector (Everhart–Thornley detector). The number of secondary electrons that can be detected, and thus the signal intensity, depends, among other things, on specimen topography. Some SEMs can achieve resolutions better than 1 nanometer. Specimens are observed in high vacuum in a conventional SEM, or in low vacuum or wet conditions in a variable pressure or environmental SEM, and at a wide range of cryogenic or elevated temperatures with specialized instruments. (en) La microscopie électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscopy (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. S'appuyant sur les travaux de Max Knoll et Manfred von Ardenne dans les années 1930, la MEB consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image en trois dimensions de la surface. Les travaux menés dans les années 1960 dans le laboratoire de Charles Oatley à l’université de Cambridge ont grandement contribué au développement de la MEB, et ont conduit en 1965 à la commercialisation par Cambridge Instrument Co. des premiers microscopes à balayage. Aujourd’hui, la microscopie électronique à balayage est utilisée dans des domaines allant de la biologie à la science des matériaux, et un grand nombre de constructeurs proposent des appareils de série équipés de détecteurs d’électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 0,4 nanomètre et 20 nanomètres. (fr) 走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、（後方散乱電子、BSE）、、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（走査型透過電子顕微鏡）と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。 (ja) Il microscopio elettronico a scansione, comunemente indicato con l'acronimo SEM dall'inglese Scanning Electron Microscope, è un tipo di Microscopio elettronico. (it) 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔으로 주사(走査)하여 표본의 상(像)을 얻는다. 약자로 줄여 SEM(Scanning Electron Microscope)이라고도 한다. 전자들은 표본의 원자들과 상호반응하여 표본의 표면 지형과 구성에 대한 정보를 담고 있으며 검출 가능한 다양한 신호들을 생성한다. 전자 빔은 일반적으로 의 양식으로 주사하며, 빔의 위치를 검출된 신호와 결합하여 상을 만들어낸다. SEM으로 1 나노미터보다 좋은 분해능을 얻을 수 있다. 표본은 고진공, 저진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다. (ko) De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog. Het is een belangrijk apparaat voor microscopische materiaalkarakterisering in de studie der materiaalkunde, vastestoffysica en analytische chemie. (nl) Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z ang. scanning electron microscope) – rodzaj mikroskopu elektronowego, który wytwarza obraz próbki przez skanowanie powierzchni zogniskowaną wiązką elektronów, które oddziałują z atomami w próbce, wytwarzając różne sygnały zawierające informacje o topografii powierzchni i składzie próbki. Wiązka elektronów „oświetla” kolejne punkty próbki, a pozycja wiązki jest łączona z intensywnością wykrytego sygnału w celu wytworzenia obrazu. W najpopularniejszym trybie SEM elektrony wtórne emitowane przez atomy wzbudzone wiązką elektronów są wykrywane za pomocą detektora elektronów wtórnych (Detektor Everharta-Thornleya). Liczba elektronów wtórnych, które można wykryć, a tym samym natężenie sygnału, zależy m.in. od topografii próbki. Niektóre SEM mogą osiągnąć rozdzielczości lepsze niż 1 nanometr. Konwencjonalne skaningowe mikroskopy elektronowe wymagają wysokiej próżni, rozwój instrumentów spowodował opracowanie technik SEM w niskiej i zmiennej próżni. (pl) O microscópio eletrônico de varredura (português brasileiro) ou microscópio eletrónico de varrimento (português europeu) (MEV) é um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução da superfície de uma amostra. Devido à maneira com que as imagens são criadas, imagens de MEV têm uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial da amostra. Além de avaliar os aspectos topográficos, essa técnica também é útil para verificar a composição e outras características do material que compõe as amostras. (pt) Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 раз, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов. Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов. (ru) Сканувальний електронний мікроскоп (англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — науковий прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою роздільною здатністю (менше мікрометра). Зображення, одержані за допомогою растрового електронного мікроскопа, є тривимірними і зручними для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів (EDX, WDX- методи), дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів. (uk) Svepelektronmikroskop, Scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets , sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga. * Dessa pollenkorn är tagna med hjälp av en SEM och visar karaktär på skärpedjup på SEM mikroskopfotografering. * SEM öppnad provbehållare. * Analog typ av scanning med elektronmikroskop. (sv) 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种电子显微镜，其通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。 显微镜电子束通常以图案扫描。电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1纳米。样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的二次电子（secondary electron）。可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌，以及取决于其他因素。通过扫描样品并使用特殊检测器收集被发射的二次电子，创建了显示表面的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。 (zh) |
| dbo:thumbnail | wiki-commons:Special:FilePath/Misc_pollen.jpg?width=300 |
| dbo:wikiPageExternalLink | http://www.danilatos.com http://toutestquantique.fr/en/microscopy/ http://bioree.ru/%3Flang=en http://remf.dartmouth.edu/imagesindex.html http://www.ammrf.org.au/myscope/sem/practice/virtualsem/sparkler.php http://www.howstuffworks.com/scanning-electron-microscope.htm https://myscope.training/%23/SEMlevel_3_1 http://www.danilatos.com/colorESEM/colrESEM317.html http://www.danilatos.com/scancol/scancol09.html https://twitter.com/sbertazz https://www.youtube.com/watch%3Fv=GY9lfO-tVfE |
| dbo:wikiPageID | 28034 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageLength | 64641 (xsd:nonNegativeInteger) |
| dbo:wikiPageRevisionID | 1122421013 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageWikiLink | dbr:Carbon_dioxide dbr:Scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Scintillator dbr:Elastic_scattering dbr:Electron_backscatter_diffraction dbr:Electron_gun dbr:Electron_hole dbr:Electron_microscope dbr:Electronics dbr:Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:Energy_level dbr:Depth_of_field dbr:Devonian dbr:Alloy dbr:Annular_dark-field_imaging dbr:Antarctic_krill dbr:Antimony dbr:Characteristic_X-ray dbr:Charge-coupled_device dbr:Charge_carrier dbr:Valence_band dbr:Vapour_pressure dbr:Vladimir_K._Zworykin dbr:Depth_hoar dbr:Inelastic_scattering dbr:Microtome dbr:Osmium dbr:Platinum dbr:Optimal_estimation dbc:Articles_containing_video_clips dbr:Condenser_(microscope) dbr:Conduction_band dbr:Analog-to-digital_converter dbr:Objective_(optics) dbr:Onion dbr:Electrical_conductivity dbr:Electromagnetic_radiation dbr:Electron dbr:Electron_microscopy dbr:Electron_shell dbr:Electrons dbr:Electronvolt dbr:Energy dbr:Gallium dbr:Glutaraldehyde dbr:Gold dbr:MountainsMap dbr:Cryofixation dbr:Thiocarbohydrazide dbr:Ostracoda dbr:Plastics dbr:Transmission_electron_microscope dbr:Manfred_von_Ardenne dbr:Cambridge_Scientific_Instrument_Company dbr:Signal_(electrical_engineering) dbr:Stoma dbr:Colloidal_gold dbr:Compound_eye dbr:Zinc dbr:Fatty_acid dbr:File:SEM_SE_vs_BE_Zr_Al.png dbr:Photomultiplier dbr:Spectrum dbr:Staining dbr:Static_electricity dbr:Max_Knoll dbr:Buffer_solution dbr:Adhesive dbr:Torr dbr:Tradescantia dbr:Wafer_(electronics) dbr:Walter_H._Schottky dbr:Color_look-up_table dbr:Ion dbr:Liquid-Phase_Electron_Microscopy dbr:Acetone dbc:Electron_microscopy_techniques dbr:DuPont dbr:Ethanol dbr:Field_electron_emission dbr:Fluorescence dbr:Formaldehyde dbr:Osmium_tetroxide dbr:Palladium dbr:Chromatic_aberration dbr:Chromium dbr:Digital_image dbr:False_color dbr:Focused_ion_beam dbr:Forensic_engineering dbr:Forensic_science dbr:Fractography dbr:Graphite dbr:File:LT-SEM_snow_crystal_magnification_series-3.jpg dbr:File:Misc_pollen.jpg dbr:Tungsten dbr:Optical_resolution dbr:Photoresist dbr:Raster_scan dbr:Resin dbr:Hederellid dbr:Atom dbr:Atomic_number dbr:Attenuation dbr:Ion_beam dbr:Iridium dbr:Backscatter dbr:Humidity dbc:German_inventions_of_the_Nazi_period dbc:Scientific_techniques dbr:Charles_Oatley dbr:Lanthanum_hexaboride dbr:Surface_roughness dbr:Cobaea_scandens dbr:Elastomers dbr:Phase_transition dbr:Topography dbr:Transmission_electron_microscopy dbr:Triangulation_(computer_vision) dbr:Direct_bandgap dbr:Arsenopyrite dbr:Art_forgery dbr:Photogrammetry dbr:Photographic_film dbr:Pixel dbr:Sputter_coating dbr:Field_emission_gun dbr:Ground_(electricity) dbr:Scanning_coils dbr:Inelastic_mean_free_path dbr:Microscopy dbr:Nanometer dbr:Nanometre dbr:Ommatidia dbr:Camera dbr:Cathode dbr:Cathode-ray_tube dbr:Cathodoluminescence dbr:Cathodoluminescence_microscope dbr:Sensor dbr:X-ray dbr:Luminescence dbr:Order_of_magnitude dbr:Scanning_probe_microscopy dbr:Soybean_cyst_nematode dbr:Scanning_probe_microscope dbr:Secondary_electrons dbr:Semiconductor dbr:Snow dbr:Ultraviolet dbr:Vacuum dbr:Video dbr:Water dbr:Wavelength-dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:White_blood_cell dbr:Digital_images dbr:Image_resolution dbr:Immunogold_labelling dbr:Light_microscope dbr:Everhart–Thornley_detector dbr:Fixation_(histology) dbr:Teeny_Ted_from_Turnip_Town dbr:Art_conservation dbr:Microfossils dbr:Weddellite dbr:P-n_junction dbr:Kidney_stone dbr:Electron_beam_induced_current dbr:List_of_surface_analysis_methods dbr:Critical_point_drying dbr:Forensic_analysis dbr:Zirconium_oxide dbr:Cold-cathode dbr:Diffraction_limit dbr:Shape_from_shading dbr:Thermionically dbr:Wavelength_dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:File:Electron-matter_interaction_volum...us_types_of_signal_generated_-_v2.svg dbr:File:Electron_emission_mechanisms.svg dbr:File:First_Scanning_Electron_Microscop...ion_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg dbr:File:Gold_Spider_SEM_sample.jpg dbr:File:Pos.tif dbr:File:SEM_Zoom.ogv dbr:File:ScanningMicroscopeJLM.jpg dbr:File:Scanning_Electron_Microscope.ogg dbr:File:Schema_MEB_(en).svg dbr:X-ray_analysis dbr:File:Schottky-Emitter_01.jpg dbr:File:SEM_chamber1.JPG dbr:File:InGaN_crystal_SEM+CL.png |
| dbp:by | no (en) |
| dbp:label | Scanning electron microscopy (en) |
| dbp:lcheading | Scanning electron microscopy (en) |
| dbp:onlinebooks | no (en) |
| dbp:wikiPageUsesTemplate | dbt:Authority_control dbt:Chem dbt:Citation_needed dbt:Clarify dbt:Cmn dbt:Commons_category dbt:Distinguish dbt:Main dbt:Reflist dbt:Short_description dbt:Snd dbt:Unreferenced_section dbt:Use_dmy_dates dbt:Wikibooks dbt:Library_resources_box |
| dct:subject | dbc:Articles_containing_video_clips dbc:Electron_microscopy_techniques dbc:German_inventions_of_the_Nazi_period dbc:Scientific_techniques |
| gold:hypernym | dbr:Microscope |
| rdf:type | owl:Thing yago:WikicatMicroscopes yago:Artifact100021939 yago:Device103183080 yago:Instrument103574816 yago:Instrumentality103575240 yago:Magnifier103709206 yago:Microscope103760671 yago:Object100002684 yago:PhysicalEntity100001930 yago:ScientificInstrument104147495 yago:Whole100003553 |
| rdfs:comment | Rastrovací, nebo též skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop (anglicky scanning electron microscope, SEM), je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná. (cs) El microscopi electrònic de rastreig o MER (també anomenat d'escombratge o scanning i SEM de Scanning Electron Microscope en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona una imatge de la mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interaccionen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla que hi ha al costat. (ca) Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (ΗΜΣ) είναι ένα από τα όργανα της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας, με το οποίο μπορούμε να εξετάζουμε την επιφάνεια αντικειμένων με την χρήση ηλεκτρονικής δέσμης. Σε αντιστοιχία με τα μικροσκόπια που χρησιμοποιούν φως και κοινούς φακούς για την δημιουργία ειδώλου ενός αντικειμένου, στο ΗΜΣ χρησιμοποιούνται ηλεκτρόνια και ηλεκτρομαγνητικοί φακοί για την δημιουργία ειδώλου της επιφανείας ενός αντικειμένου στην οθόνη ηλεκτρονικού υπολογιστή ή μιας τηλεόρασης. Για τη λειτουργία αυτού του οργάνου είναι απαραίτητη συνθήκη να δημιουργείται ικανοποιητικό "κενό" με διαρκή άντληση του αέρα μετά την εισαγωγή του προς εξέταση αντικειμένου (δείγματος) στο μικροσκόπιο. (el) Als Rasterelektronenmikroskop (REM) (englisch scanning electron microscope, SEM) bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt werden. Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Eine rasternde Abbildung lässt sich auch in Transmission durchführen (engl. scanning transmission electron microscopy, STEM), hierfür sind entsprechend ausgerüstete Transmissionselektronenmikroskope oder dedizierte Rastertransmissionselektronenmikroskope nötig. (de) Is éard is leictreonmhicreascóp scanacháin (LMS) ann ná cineál ar féidir leis amharc-íomhánna a táirgeadh tré scanachán a dhéanamh ar dhromchla an tsampla le léas ardfhuinnimh leictreon i bpatrún scanta rastair. Idirghníomhaíonn na leictreoin leis na hadaimh sa tsampla agus táirgítear comharthaí a thugann faisnéis maidir le topagrafaíocht dhromchla an tsampla, comhdhéanamh agus airíonna eile ar nós . (ga) 走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: Scanning Electron Microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、（後方散乱電子、BSE）、、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（走査型透過電子顕微鏡）と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。 (ja) Il microscopio elettronico a scansione, comunemente indicato con l'acronimo SEM dall'inglese Scanning Electron Microscope, è un tipo di Microscopio elettronico. (it) 주사전자현미경(走査電子顯微鏡)은 전자 현미경의 한 종류로, 집중적인 전자 빔으로 주사(走査)하여 표본의 상(像)을 얻는다. 약자로 줄여 SEM(Scanning Electron Microscope)이라고도 한다. 전자들은 표본의 원자들과 상호반응하여 표본의 표면 지형과 구성에 대한 정보를 담고 있으며 검출 가능한 다양한 신호들을 생성한다. 전자 빔은 일반적으로 의 양식으로 주사하며, 빔의 위치를 검출된 신호와 결합하여 상을 만들어낸다. SEM으로 1 나노미터보다 좋은 분해능을 얻을 수 있다. 표본은 고진공, 저진공, 습기 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다. (ko) De rasterelektronenmicroscoop (Engels: scanning electron microscope, SEM) is een bepaald type elektronenmicroscoop waarmee de microstructuur van materialen zichtbaar kan worden gemaakt voor het menselijk oog. Het is een belangrijk apparaat voor microscopische materiaalkarakterisering in de studie der materiaalkunde, vastestoffysica en analytische chemie. (nl) O microscópio eletrônico de varredura (português brasileiro) ou microscópio eletrónico de varrimento (português europeu) (MEV) é um tipo de microscópio eletrônico capaz de produzir imagens de alta resolução da superfície de uma amostra. Devido à maneira com que as imagens são criadas, imagens de MEV têm uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial da amostra. Além de avaliar os aspectos topográficos, essa técnica também é útil para verificar a composição e outras características do material que compõe as amostras. (pt) Сканувальний електронний мікроскоп (англ. Scanning Electron Microscope, SEM) — науковий прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою роздільною здатністю (менше мікрометра). Зображення, одержані за допомогою растрового електронного мікроскопа, є тривимірними і зручними для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів (EDX, WDX- методи), дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів. (uk) Svepelektronmikroskop, Scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets , sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga. * Dessa pollenkorn är tagna med hjälp av en SEM och visar karaktär på skärpedjup på SEM mikroskopfotografering. * SEM öppnad provbehållare. * Analog typ av scanning med elektronmikroskop. (sv) 扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种电子显微镜，其通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。 显微镜电子束通常以图案扫描。电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号，信号与光束的位置组合而产生图像。扫描电子显微镜可以实现的分辨率优于1纳米。样品可以在高真空，低真空，湿条件（用环境扫描电子显微镜）以及宽范围的低温或高温下观察到。 最常见的扫描电子显微镜模式是检测由电子束激发的原子发射的二次电子（secondary electron）。可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌，以及取决于其他因素。通过扫描样品并使用特殊检测器收集被发射的二次电子，创建了显示表面的形貌的图像。它还可能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，鉴定样品的表面结构。 (zh) المجهر الإلكتروني الماسح هو نوع من أنواع المجاهر الإلكترونية التي تنتج صور عينة عن طريق مسح ذلك مع شعاع مركز من الإلكترونات. تتفاعل الإلكترونات مع الذرات في العينة، وتنتج إشارات مختلفة تحتوي على معلومات حول تضاريس السطح وتكوينه. يتم مسح شعاع الإلكترون بشكل عام باستخدام المسح النقطي ويتم الجمع بين موقع الشعاع مع الإشارة لإنتاج صورة. يمكن تحقيق فصل أفضل من 1 نانومتر. ويمكن مشاهدة العينات في فراغ عال، في فراغ منخفض، في ظروف رطبة (في المجهر الإلكتروني الماسح البيئي)، وفي مجموعة واسعة من درجات الحرارة المنخفضة جدًا أو المرتفعة. إن أسلوب المجهر الإلكتروني الماسح الأكثر شيوعًا هو الكشف عن الإلكترونات الثانوية المنبعثة من ذرات مثارة بواسطة شعاع الإلكترون. يعتمد عدد الإلكترونات الثانوية التي يمكن اكتشافها، من بين أمور أخرى، على تضاريس العينة. عن طريق مسح العينة وجمع الإلكترونات الثانوية التي تنبعث (ar) El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. (es) A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning the surface with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that contain information about the surface topography and composition of the sample. The electron beam is scanned in a raster scan pattern, and the position of the beam is combined with the intensity of the detected signal to produce an image. In the most common SEM mode, secondary electrons emitted by atoms excited by the electron beam are detected using a secondary electron detector (Everhart–Thornley detector). The number of secondary electrons that can be detected, and thus the signal intensity, depends, among other things, on specimen topography. Some S (en) La microscopie électronique à balayage (MEB) ou Scanning Electron Microscopy (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. (fr) Mikroskop pemindai elektron (Scanning Electron Microscope; SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang mencitrakan permukaan sampel oleh pemindaian dengan pancaran tinggi elektron. Elektron yang berinteraksi dengan atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang sampel dari permukaan topografi, komposisi dan sifat lainnya seperti daya konduksi listrik. (in) Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM, z ang. scanning electron microscope) – rodzaj mikroskopu elektronowego, który wytwarza obraz próbki przez skanowanie powierzchni zogniskowaną wiązką elektronów, które oddziałują z atomami w próbce, wytwarzając różne sygnały zawierające informacje o topografii powierzchni i składzie próbki. Wiązka elektronów „oświetla” kolejne punkty próbki, a pozycja wiązki jest łączona z intensywnością wykrytego sygnału w celu wytworzenia obrazu. W najpopularniejszym trybie SEM elektrony wtórne emitowane przez atomy wzbudzone wiązką elektronów są wykrywane za pomocą detektora elektronów wtórnych (Detektor Everharta-Thornleya). Liczba elektronów wtórnych, które można wykryć, a tym samym natężenie sygnału, zależy m.in. od topografii próbki. Niektóre SEM mogą osiągnąć r (pl) Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом. (ru) |
| rdfs:label | مجهر إلكتروني ماسح (ar) Microscopi electrònic de rastreig (ca) Rastrovací elektronový mikroskop (cs) Rasterelektronenmikroskop (de) Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (el) Microscopio electrónico de barrido (es) Leictreonmhicreascóp scanacháin (ga) Mikroskop pemindai elektron (in) Microscopie électronique à balayage (fr) Microscopio elettronico a scansione (it) 주사전자현미경 (ko) 走査型電子顕微鏡 (ja) Skaningowy mikroskop elektronowy (pl) Rasterelektronenmicroscoop (nl) Scanning electron microscope (en) Microscópio eletrônico de varredura (pt) Растровый электронный микроскоп (ru) Svepelektronmikroskop (sv) 扫描电子显微镜 (zh) Сканувальний електронний мікроскоп (uk) |
| owl:differentFrom | dbr:Scanning_tunneling_microscope |
| owl:sameAs | freebase:Scanning electron microscope yago-res:Scanning electron microscope wikidata:Scanning electron microscope dbpedia-ar:Scanning electron microscope dbpedia-bg:Scanning electron microscope http://bn.dbpedia.org/resource/ক্রমবেক্ষক_ইলেকট্রন_অণুবীক্ষণ_যন্ত্র dbpedia-ca:Scanning electron microscope http://ckb.dbpedia.org/resource/مایکڕۆسکۆپی_ئەلێکتڕۆنی_سکانەر dbpedia-cs:Scanning electron microscope dbpedia-de:Scanning electron microscope dbpedia-el:Scanning electron microscope dbpedia-es:Scanning electron microscope dbpedia-et:Scanning electron microscope dbpedia-fa:Scanning electron microscope dbpedia-fr:Scanning electron microscope dbpedia-ga:Scanning electron microscope dbpedia-hu:Scanning electron microscope dbpedia-id:Scanning electron microscope dbpedia-is:Scanning electron microscope dbpedia-it:Scanning electron microscope dbpedia-ja:Scanning electron microscope dbpedia-ka:Scanning electron microscope dbpedia-ko:Scanning electron microscope dbpedia-lb:Scanning electron microscope dbpedia-ms:Scanning electron microscope dbpedia-nl:Scanning electron microscope dbpedia-pl:Scanning electron microscope dbpedia-pt:Scanning electron microscope dbpedia-ro:Scanning electron microscope dbpedia-ru:Scanning electron microscope dbpedia-simple:Scanning electron microscope dbpedia-sl:Scanning electron microscope dbpedia-sv:Scanning electron microscope http://ta.dbpedia.org/resource/அலகிடு_எதிர்மின்னி_நுண்ணோக்கி dbpedia-th:Scanning electron microscope dbpedia-tr:Scanning electron microscope dbpedia-uk:Scanning electron microscope dbpedia-vi:Scanning electron microscope dbpedia-zh:Scanning electron microscope https://global.dbpedia.org/id/2xqLa |
| skos:closeMatch | http://www.springernature.com/scigraph/things/subjects/scanning-electron-microscopy |
| prov:wasDerivedFrom | wikipedia-en:Scanning_electron_microscope?oldid=1122421013&ns=0 |
| foaf:depiction | wiki-commons:Special:FilePath/HederelloidSEM.jpg wiki-commons:Special:FilePath/LightLTSEM.jpg wiki-commons:Special:FilePath/SEM_blood_cells.jpg wiki-commons:Special:FilePath/3D_surface_reconstruc...anning_electron_microscope_images.gif wiki-commons:Special:FilePath/Antarctic_krill_ommatidia.jpg wiki-commons:Special:FilePath/BSEGlassInclusionSb.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Cobaea_scandens1-4.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Cobaea_scandens_colorized_SEM_image.jpg wiki-commons:Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_BW_-_1.jpg wiki-commons:Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_BW_-_2.jpg wiki-commons:Special:FilePath/DDC-SEM_of_calcified_particle_in_cardiac_tissue_-_orange.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Discoaster-side-diag-alt_Re-colorized_SEM_Image.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Discoaster-side-diag-alt_hg.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Electron-matter_inter...us_types_of_signal_generated_-_v2.svg wiki-commons:Special:FilePath/Electron_emission_mechanisms.svg wiki-commons:Special:FilePath/FLY_EYE.jpg wiki-commons:Special:FilePath/First_Scanning_Electr...ion_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Fly_Eye_3D_SEM_Image_with_form.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Fly_Eye_3D_SEM_Image_without_form.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Fly_eye_detail.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Gold_Spider_SEM_sample.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Gold_on_arsenopyrite_SEM_image.png wiki-commons:Special:FilePath/InGaN_crystal_SEM+CL.png wiki-commons:Special:FilePath/Krilleyekils.jpg wiki-commons:Special:FilePath/LT-SEM_snow_crystal_magnification_series-3.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Misc_pollen.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Onion_flake._Cells._SEM-BSE.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Photoresist_SEM_micrograph.jpg wiki-commons:Special:FilePath/SEGlassCorrosion.jpg wiki-commons:Special:FilePath/SEM_SE_vs_BE_Zr_Al.png wiki-commons:Special:FilePath/SEM_Stereo_Pair.jpg wiki-commons:Special:FilePath/SEM_Stereo_pair_of_mi...lyocypris_schwarzbachi_Ostracoda).gif wiki-commons:Special:FilePath/SEM_chamber1.jpg wiki-commons:Special:FilePath/ScanningMicroscopeJLM.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Schema_MEB_(en).svg wiki-commons:Special:FilePath/Schottky-Emitter_01.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Soybean_cyst_nematode_and_egg_SEM.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Surface_of_a_kidney_stone.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Surface_of_a_kidney_stone_Re-colorized_SEM_Image.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Tradescantia_tolmukakarvad_ja_õietolm.jpg |
| foaf:isPrimaryTopicOf | wikipedia-en:Scanning_electron_microscope |
| is dbo:knownFor of | dbr:Manfred_von_Ardenne dbr:Charles_Oatley |
| is dbo:product of | dbr:FEI_Company dbr:Aspex dbr:TESCAN |
| is dbo:type of | dbr:Mochii |
| is dbo:wikiPageDisambiguates of | dbr:Microscope_(disambiguation) dbr:SEM |
| is dbo:wikiPageRedirects of | dbr:Scanning_Electron_Microscope dbr:Scanning_electron_micrographs dbr:History_of_scanning_electron_microscopy dbr:3D_SEM_surface_reconstruction dbr:3D_reconstruction_of_SEM_images dbr:FESEM dbr:Scanning_Electron_Micrograph dbr:Scanning_Electron_Microscopy dbr:Scanning_electron dbr:Scanning_electron_micrograph dbr:Scanning_electron_microscopes dbr:Scanning_electron_microscopies dbr:Scanning_electron_microscopy dbr:Ion-abrasion_SEM dbr:Fegsem dbr:Microscopy,_electron,_scanning dbr:SEM_study dbr:Interaction_volume |
| is dbo:wikiPageWikiLink of | dbr:Carl_Zeiss_AG dbr:Carlosruizite dbr:Carol_Trager-Cowan dbr:Caswell,_Northamptonshire dbr:American_Microscopical_Society dbr:Amphiroa_beauvoisii dbr:Bayer_School_of_Natural_and_Environmental_Sciences dbr:Behavior_of_nuclear_fuel_during_a_reactor_accident dbr:BSE dbr:Praeneste_fibula dbr:Praseodymium(III,IV)_oxide dbr:QEMSCAN dbr:Roberto_Salvarezza dbr:Rongorongo dbr:ScanIP dbr:Scanning_Electron_Microscope dbr:Scanning_electron_micrographs dbr:Scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Schistosoma_spindale dbr:Scipionyx dbr:Electrical_treeing dbr:Electrically_conductive_adhesive dbr:Electron-beam_technology dbr:Electron-refractive_effect dbr:Electron_backscatter_diffraction dbr:Electron_beam-induced_current dbr:Electron_beam-induced_deposition dbr:Electron_beam_prober dbr:Electron_channelling_contrast_imaging dbr:Electron_diffraction dbr:Electron_microprobe dbr:Electron_microscope dbr:Enamel_prism dbr:Enamel_tufts dbr:Energy-dispersive_X-ray_spectroscopy dbr:Environmental_scanning_electron_microscope dbr:Epicuticular_wax dbr:Metamorphic_facies dbr:Microscope_(disambiguation) dbr:Millipede_memory dbr:Nanowire dbr:Optical_microscope dbr:MEMS_for_in_situ_mechanical_characterization dbr:Melt_inclusion dbr:Membrane_scaling dbr:Metallography dbr:Methanohalophilus_mahii dbr:Mopalia_ciliata dbr:Morchella_arbutiphila dbr:Morchella_disparilis dbr:Morchella_dunalii dbr:Morpho_menelaus dbr:Opacuincola_gretathunbergae dbr:Beipiaopterus dbr:Beipiaosaurus dbr:Bergen_County_Academies dbr:Bigyra dbr:Bone dbr:Department_of_Engineering,_University_of_Cambridge dbr:Department_of_Materials,_University_of_Oxford dbr:Detrital_zircon_geochronology dbr:Alforsite dbr:Antimicrobial_surface dbr:Apical_ectodermal_ridge dbr:Aragonite dbr:Archaeological_science dbr:Archaeometallurgical_slag dbr:History_of_scanning_electron_microscopy dbr:Hosea_Nelson dbr:Jonty_Hurwitz dbr:Joseph_Davidovits dbr:List_of_The_Curse_of_Oak_Island_episodes dbr:Paul_G._Comba dbr:Paul_Horowitz dbr:Pettalidae dbr:Phase_inversion_(chemistry) dbr:Research_on_Inuit_clothing dbr:Robert_L._Rausch dbr:Characterization_of_nanoparticles dbr:Charge-induced_voltage_alteration dbr:Charge_contrast_imaging dbr:Charged_particle_beam dbr:Cuticle_analysis dbr:Cytostome dbr:University_of_Auckland_Faculty_of_Engineering dbr:Unsere_Besten dbr:Urban_Hydrology dbr:Velloziaceae dbr:Vespula_vulgaris dbr:Voynich_manuscript dbr:David_B._Williams_(materials_scientist) dbr:Defence_Food_Research_Laboratory dbr:Index_of_electronics_articles dbr:Lotus_effect dbr:Orthosiphon_stamineus dbr:Rime_ice dbr:Saccharomyces_cerevisiae dbr:Limescale dbr:List_of_materials_analysis_methods dbr:List_of_microscopy_visualization_systems dbr:List_of_organisms_named_after_the_Star_Wars_series dbr:Measuring_instrument dbr:Nuclear_forensics dbr:Prochlorococcus dbr:Pterygodermatites_peromysci dbr:Robert_R._Gaines dbr:Timeline_of_electrical_and_electronic_engineering dbr:Timeline_of_entomology_since_1900 dbr:Weld_tests_for_friction_welding dbr:Confocal_microscopy dbr:Cruralispennia dbr:Membrane_technology dbr:Escherichia dbr:Gaseous_detection_device dbr:Gastrolith dbr:Geophotography dbr:Low-voltage_electron_microscope dbr:Wild_silk dbr:Titanium_adhesive_bonding dbr:Chytridiomycota dbr:Clay_mineral dbr:Electron dbr:Elizabeth_Slater dbr:Ella_Campbell dbr:Frome dbr:Fusulinida dbr:Giardia dbr:Glomerulus_(kidney) dbr:Gold dbr:Gordaite dbr:Bradybaena_similaris dbr:Mochii dbr:Morchella_anatolica dbr:Morchella_tridentina dbr:MountainsMap dbr:Museum_of_Zoology_of_the_University_of_São_Paulo dbr:NLC_India_Limited dbr:Nakhla_meteorite dbr:Condition_monitoring dbr:Conservation_and_restoration_of_iron_and_steel_objects dbr:Conservation_and_restoration_of_metals dbr:Conservation_science_(cultural_property) dbr:Conservation_scientist dbr:Constance_Tipper dbr:Contact_angle dbr:Cordylobia_rodhaini dbr:Cross_section_(electronics) dbr:Crystallite dbr:The_Naked_Sun dbr:Theodoxus_fluviatilis dbr:Thomas_Eugene_Everhart dbr:Lacrimispora_indolis dbr:Micromollusk dbr:Pilbara_Craton dbr:Pintle_injector dbr:Optical_sectioning dbr:2012_in_science dbr:Ankylopollexia dbr:Anthrax dbr:Aravalli_Range dbr:Lennart_Nilsson dbr:Macrobiotus_shonaicus dbr:Magnesium_oxalate dbr:Manfred_von_Ardenne dbr:Calibration dbr:Chlamydomonas dbr:Siamosaurus dbr:St_Paul's_School,_London dbr:Cliché_forgery dbr:Clostridioides dbr:Collinia dbr:Collinia_oregonensis dbr:Zircon dbr:Fumarole_mineral dbr:Hadrosaur_diet dbr:Hemileccinum_impolitum dbr:Identification_of_cell_death dbr:Joule_heating dbr:Leptaxis_erubescens dbr:Specimens_of_Archaeopteryx dbr:Pilling_Figurines dbr:Striation_(fatigue) dbr:Marcelo_Coelho dbr:Max_Knoll dbr:Michael_A._Sutton dbr:Micrograph dbr:Microheater dbr:Muscle_tissue_engineering dbr:Austrian_Centre_for_Electron_Microscopy_and_Nanoanalysis dbr:Bacteria dbr:Brownimecia dbr:C-4_(explosive) dbr:Catherine_Wagner_(artist) dbr:Threshing_board dbr:Timomenus_komarowi dbr:Toothcomb dbr:Tosham_Hill_range dbr:Tremp_Formation dbr:Trypanosomatida dbr:Tuckerella dbr:Davaineidae dbr:Washington_State_University_Vancouver dbr:HD-Rosetta dbr:Helicobacter dbr:Helicobacter_bilis dbr:Ion_milling_machine dbr:Lanthanide dbr:Laser_polishing dbr:Lateral_force_transmission_in_skeletal_muscle dbr:Lipid_bilayer_characterization dbr:Liquid-Phase_Electron_Microscopy dbr:Season_cracking dbr:Tenuipalpidae dbr:3D_SEM_surface_reconstruction dbr:3D_reconstruction_of_SEM_images dbr:Advanced_Math_and_Science_Academy_Charter_School dbr:Albert_Crewe dbr:Allan_Hills_84001 dbr:Anchiornis dbr:4D_scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Crystal_skull dbr:East_of_England dbr:Ebenezer_Oduro_Owusu dbr:FEI_Company dbr:FESEM dbr:Federal_University_of_ABC dbr:Field_electron_emission dbr:Fixed_prosthodontics dbr:Flea dbr:Florida_Museum_of_Natural_History dbr:Foraminifera dbr:Forest_Products_Laboratory dbr:Andy_Tillman dbr:Bamboo_textile dbr:Nicholas_Toth dbr:Carbon_dioxide_cleaning dbr:Carbon_nanotube dbr:Carbon_nanotube_nanomotor dbr:Cement_clinker dbr:Cheese_mite dbr:Christopher_Grigson dbr:Chrysiridia_rhipheus dbr:Chrysomya_bezziana dbr:Cilium dbr:Diamond_inclusions dbr:Diaphanoeca_grandis dbr:Diffraction-limited_system dbr:Diffusion_chronometry dbr:Digital_Surf dbr:Dinosaur_coloration dbr:Directed_assembly_of_micro-_and_nano-structures dbr:Failure_analysis dbr:Fluorescence_microscope dbr:Focused_ion_beam dbr:Force-sensing_resistor dbr:Forensic_engineering dbr:Forensic_entomology dbr:Forensic_glass_analysis dbr:Forensic_materials_engineering dbr:Fossil_record_of_fire dbr:Fractography dbr:Frances_Hurwitz dbr:Geospeedometry dbr:Geothermobarometry dbr:Golden_spider_beetle dbr:Gordius_(worm) dbr:Gorytos dbr:Graphite_oxide dbr:Graupel dbr:Haplozoon dbr:Historical_revisionism dbr:Kazachstania_yasuniensis dbr:Kikuchi_lines_(physics) dbr:Kohl_(cosmetics) dbr:Water_vapor dbr:Yersinia_pestis dbr:Lee_Penn dbr:Length_measurement dbr:List_of_German_inventions_and_discoveries dbr:List_of_Jamaican_inventions_and_discoveries dbr:List_of_Old_Bedford_Modernians dbr:Particle_deposition dbr:Technological_Educational_Institute_of_Eastern_Macedonia_and_Thrace dbr:Thermal_expansion dbr:Thin_film dbr:Scanning_helium_ion_microscope dbr:Resist_(semiconductor_fabrication) dbr:Reverse_engineering dbr:Rutherford_backscattering_spectrometry dbr:Grimstad dbr:Growing_Up_in_the_Universe dbr:Hair_analysis dbr:Haliotis_asinina dbr:Hederellid dbr:Henry_VII,_Holy_Roman_Emperor dbr:Astrovirology dbr:Atomic_de_Broglie_microscope dbr:JEOL dbr:Bacillus_odysseyi dbr:Covalent_organic_framework |
| is dbp:knownFor of | dbr:Manfred_von_Ardenne dbr:Charles_Oatley |
| is dbp:products of | dbr:FEI_Company dbr:Aspex |
| is dbp:type of | dbr:Mochii |
| is rdfs:seeAlso of | dbr:Environmental_scanning_electron_microscope |
| is foaf:primaryTopic of | wikipedia-en:Scanning_electron_microscope |
